实战宝典 原创大赛 仪器问答 仪友会 总帖：8043191今日发帖：412 我的社区 签到
快速导航 采购仪器 提醒
XPS及其它能谱仪
版主:
入住本版
专家:
居民列表

主题：【求助】求助关于薄膜xps成分定量的问题

浏览0 回复2 电梯直达
moreniu
头像
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
发表于：2011/08/21 22:32:24 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
各位老师好，请问下样品是在Cu基体上沉积的Ge，结果部分Ge与Cu形成了Cu3Ge合金，想确定下合金中的Ge和单质Ge的含量比例，这种情况下能够用xps测试得出合金中的Ge与单质Ge的含量比吗？谢谢各位了。
为您推荐
近期热榜
热门活动
您可能想找: X光电子能谱仪(XPS/ESCA) 询底价
选参数 看心得 找厂商 查方案
专属顾问快速对接
立即提交
可能感兴趣
opfilm2010
opfilm2010
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
2011/8/29 12:57:48 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
要看部分Ge与Cu形成了Cu3Ge合金的含量及位置,还要查一下峰位移动是否明显
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
举报
feixiong5134
feixiong5134
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
2011/8/31 9:35:54 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
看你沉积了多厚，如果沉积的薄的话，应该可以看到相互作用
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
举报
手机版： 求助关于薄膜xps成分定量的问题
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
头像
高级回复 发表评论
品牌合作伙伴
岛津
日立科学仪器
珀金埃尔默仪器（上海）有限公司（PerkinElmer）
日本电子株式会社
丹纳赫
安捷伦
赛默飞世尔科技
普析通用
欧波同
天美
天瑞仪器
德国耶拿
海能技术
马尔文帕纳科
磐诺科技
上海仪电科仪
梅特勒托利多
聚光科技
莱伯泰科
盛瀚
多宁生物
丹东百特
科哲
卓立汉光
屹尧科技
华谱科仪
宝德仪器
优莱博
HORIBA
布鲁克核磁