主题：【求助】新手请教探测器分辨率问题！谢谢！

原文由 p_nicholas(p_nicholas) 发表:

原文由 njalvin(njalvin) 发表:
        看书时有几句话不理解。
        1，为什么探测器面积愈小，分辨率愈好？
        2，面积固定情况下，时间常数增加，光子测量量得更准，相应的分辨率也更好，为什么？
        求高手指点下！
        不胜感激！

个人理解时间常数增加，则指数衰减越平缓，对于模拟多道来说更容易精确的找到峰值，而对于数字多道检测技术来说，梯形成型后，梯形的平顶部分更平滑，从而提高了检测精度，自然分辨率也会更好。当然为了得到更好的分辨率，在数字多道检测技术中可以选择增加梯形成型时间来实现，这样造成的后果就是死时间会急剧上升。

原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:
针对能量Si-PIN探测器，探测器面积越小，谱峰成型时间越长，线形范围窄，分辨率越高。
能量分辨率与脉冲成型时间常数呈一种极小值曲线分布，故有时适当
选择稍大的脉冲成型时间常数，可有较高的能量分辨率。

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原文由 njalvin(njalvin) 发表:
        看书时有几句话不理解。
        1，为什么探测器面积愈小，分辨率愈好？
        2，面积固定情况下，时间常数增加，光子测量量得更准，相应的分辨率也更好，为什么？
        求高手指点下！
        不胜感激！

个人理解时间常数增加，则指数衰减越平缓，对于模拟多道来说更容易精确的找到峰值，而对于数字多道检测技术来说，梯形成型后，梯形的平顶部分更平滑，从而提高了检测精度，自然分辨率也会更好。当然为了得到更好的分辨率，在数字多道检测技术中可以选择增加梯形成型时间来实现，这样造成的后果就是死时间会急剧上升。

检测精度好，分辨率就好，可以这样理解不/？

影响分辨率的因素有很多，诸如探测器本身的理想分辨率，目前SSD探测器理论上能达到125ev，而Si-PIN只能达到145ev。
检测技术本身，抛开检测技术本身，其它相同条件下，数字多道相比模拟多道分辨率会好10%以上。
之前说到的检测精度仅仅是为了说明，梯形的平顶越光滑（平滑），则自然精度越高，相对来说分辨率也会稍好

原文由 njalvin(njalvin) 发表:

原文由 p_nicholas(p_nicholas) 发表:

原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:

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原文由 njalvin(njalvin) 发表:
        看书时有几句话不理解。
        1，为什么探测器面积愈小，分辨率愈好？
        2，面积固定情况下，时间常数增加，光子测量量得更准，相应的分辨率也更好，为什么？
        求高手指点下！
        不胜感激！

个人理解时间常数增加，则指数衰减越平缓，对于模拟多道来说更容易精确的找到峰值，而对于数字多道检测技术来说，梯形成型后，梯形的平顶部分更平滑，从而提高了检测精度，自然分辨率也会更好。当然为了得到更好的分辨率，在数字多道检测技术中可以选择增加梯形成型时间来实现，这样造成的后果就是死时间会急剧上升。

检测精度好，分辨率就好，可以这样理解不/？

影响分辨率的因素有很多，诸如探测器本身的理想分辨率，目前SSD探测器理论上能达到125ev，而Si-PIN只能达到145ev。
检测技术本身，抛开检测技术本身，其它相同条件下，数字多道相比模拟多道分辨率会好10%以上。
之前说到的检测精度仅仅是为了说明，梯形的平顶越光滑（平滑），则自然精度越高，相对来说分辨率也会稍好

原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:

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原文由 njalvin(njalvin) 发表:
        看书时有几句话不理解。
        1，为什么探测器面积愈小，分辨率愈好？
        2，面积固定情况下，时间常数增加，光子测量量得更准，相应的分辨率也更好，为什么？
        求高手指点下！
        不胜感激！

个人理解时间常数增加，则指数衰减越平缓，对于模拟多道来说更容易精确的找到峰值，而对于数字多道检测技术来说，梯形成型后，梯形的平顶部分更平滑，从而提高了检测精度，自然分辨率也会更好。当然为了得到更好的分辨率，在数字多道检测技术中可以选择增加梯形成型时间来实现，这样造成的后果就是死时间会急剧上升。

检测精度好，分辨率就好，可以这样理解不/？

影响分辨率的因素有很多，诸如探测器本身的理想分辨率，目前SSD探测器理论上能达到125ev，而Si-PIN只能达到145ev。
检测技术本身，抛开检测技术本身，其它相同条件下，数字多道相比模拟多道分辨率会好10%以上。
之前说到的检测精度仅仅是为了说明，梯形的平顶越光滑（平滑），则自然精度越高，相对来说分辨率也会稍好

具体这些还是书上的，是否有人做这方面的研究，有这方面的实验数据。

原文由 njalvin(njalvin) 发表:

原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:
针对能量Si-PIN探测器，探测器面积越小，谱峰成型时间越长，线形范围窄，分辨率越高。
能量分辨率与脉冲成型时间常数呈一种极小值曲线分布，故有时适当
选择稍大的脉冲成型时间常数，可有较高的能量分辨率。

新手，对与  “ 探测器面积越小，谱峰成型时间越长，线形范围窄”的逻辑关系不能理解，版主能不能推荐些材料？谢谢！

原文由 zbb1982(zbb1982) 发表:

原文由 njalvin(njalvin) 发表:

原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:
针对能量Si-PIN探测器，探测器面积越小，谱峰成型时间越长，线形范围窄，分辨率越高。
能量分辨率与脉冲成型时间常数呈一种极小值曲线分布，故有时适当
选择稍大的脉冲成型时间常数，可有较高的能量分辨率。

新手，对与  “ 探测器面积越小，谱峰成型时间越长，线形范围窄”的逻辑关系不能理解，版主能不能推荐些材料？谢谢！

X荧光成型时间越长，线形氛围越窄，是指成型时间长了，记数率会上不去，记数率太底对样品的分析有限制，比如说一个含铁50%和杂质的标样，如果记数率是1000，那么其中每秒产生500个记数，测试为10秒，总的记数就为5000个，如果说我的记数率是10000，那么每秒产生5000个，10秒后的总记数50000个，如果我们认为含量0的记数为0的话，那么记数率为1000的线形范围就窄了，有些含量根本没办法区分，做出来的曲线只有越陡，分析范围才会越广，我是那么认为的。请大家指教。

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原文由 njalvin(njalvin) 发表:
        看书时有几句话不理解。
        1，为什么探测器面积愈小，分辨率愈好？
        2，面积固定情况下，时间常数增加，光子测量量得更准，相应的分辨率也更好，为什么？
        求高手指点下！
        不胜感激！

个人理解时间常数增加，则指数衰减越平缓，对于模拟多道来说更容易精确的找到峰值，而对于数字多道检测技术来说，梯形成型后，梯形的平顶部分更平滑，从而提高了检测精度，自然分辨率也会更好。当然为了得到更好的分辨率，在数字多道检测技术中可以选择增加梯形成型时间来实现，这样造成的后果就是死时间会急剧上升。

检测精度好，分辨率就好，可以这样理解不/？

影响分辨率的因素有很多，诸如探测器本身的理想分辨率，目前SSD探测器理论上能达到125ev，而Si-PIN只能达到145ev。
检测技术本身，抛开检测技术本身，其它相同条件下，数字多道相比模拟多道分辨率会好10%以上。
之前说到的检测精度仅仅是为了说明，梯形的平顶越光滑（平滑），则自然精度越高，相对来说分辨率也会稍好

具体这些还是书上的，是否有人做这方面的研究，有这方面的实验数据。

我说的这些都是建立在实验数据之上的。抛开理论值，其余的数据都是有实验数据支撑的。