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主题：【求助】s-4800样品晃动问题

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fengyonghe
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2011/10/18 18:25:37 11楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 linzq(linzq) 发表:
原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
这是由激发区域大小决定的，跟倍数没关系呀。如果2000倍下颗粒小于3mm，结果出现基体干扰，在500倍下做分析也仍然会有基体干扰。

是呀！冯老的意思你可能有误解，他只是在举例来说的明那个1.5UM的激发区在各不同倍数图像上的大小。

我试试再表达清楚些。一颗在2000倍下小于3mm夹杂，比如2mm吧，放大到10000被就是10mm。能谱测量结果却是含Fe的SiO2，于是我说这颗夹杂是铁的硅酸盐。实际上我是没有注意到20千伏下激发直径是1.4μ，放大到10000倍就是14mm。这时那颗SiO2要达到15mm以上测量结果才比较可靠。
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chasedream
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2011/10/31 16:25:30 12楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
楼主的意思是：要分析出某种元素必须在合适的放大倍数下才行，放大倍数不合适时扫不出该种元素？那么我们做能谱时如何确定在多大倍数下做点扫或面扫？
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fengyonghe
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2011/10/31 21:26:55 13楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 chasedream(chasedreamzcj) 发表:
楼主的意思是：要分析出某种元素必须在合适的放大倍数下才行，放大倍数不合适时扫不出该种元素？那么我们做能谱时如何确定在多大倍数下做点扫或面扫？

任何倍数下都可以做能谱分析，只是要计算能谱的激发范围要小于被测质点。当测出有基体成分时就要进行核对。
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