主题：【讨论】答题有奖活动（200积分，奖完截止）

1 ：  （ 1981  ）年（Gerd Binning）和Heinrich Rohrer发明STM，获得1986年诺贝尔物理学奖.

2 ：    扫描探针显微镜的工作模式。（至少写出四种，2积分）
接触模式：微悬臂探针紧压样品表面，扫描过程中与样品保持接触。该
时探 模式分辨率较高，但成像针对样品作用力较大，容易对样品表面形
测表 成划痕，或将样品碎片吸附在针尖上，适合 检测强度较高、结构
稳定的样品。
横向力模式：是接触模式的扩展技术，针尖压在样品表面扫描时，与起
伏力方向垂直的横向力使微悬臂探针左右扭曲，通过检测这种扭
曲，获得样品纳米尺度局域上探针的横向作用力分布图。
轻敲模式：在扫描过程中微悬臂被压电驱动器激发到共振振荡状态，样
品表面的起伏使微悬臂探 针的振幅产生相应变化，从而得到样品
的表面形貌。
由于该模式下，针尖随着悬臂的振荡，极其短暂地对样品进行“敲
击”，因此横向力引起的对样品的破坏几乎完全消失，适合检测粉体颗
粒、生物样品及其它柔软、易碎、易吸附的样品，但分辨率接触模式低。
相移模式：是轻敲模式的扩展技术，通过检测微悬臂实际 振动与其驱动信
号源的相位差的变化来成像。引起相移的因素很多，如样品的组分、
硬度、粘弹性、环境阻尼等。因此利用相移模式，可以在纳米尺度上
获得样品表面局域性质的丰富信息。
液相模式：（选配）配有液体池，工作时探针和样品都在液体环境中，
适用于生物样品

3 ：    扫描探针显微镜可以在液态环境下做实验吗？（1积分）

可以

4 ：    举出目前仍在生产或销售扫描探针显微镜厂家。（至少举出四家，2积分）

安捷伦  布鲁克  美国AR  英国SPM

5 ：    说说你使用扫描探针显微镜的感想。（4积分）
扫描探针显微镜以其分辨率极高（原子级分辨率）、实时、实空间、原位成像，对样品无特殊要求（不受其导电性、干燥度、形状、硬度、纯度等限制）、可在大气、常温环境甚至是溶液中成像、同时具备纳米操纵及加工功能、系统及配套相对简单、廉价等优点，广泛应用于纳米科技、材料科学、物理、化学和生命科学等领域，并取得许多重要成果。　　SPM作为新型的显微工具与以往的各种显微镜和分析仪器相比有着其明显的优势：　　首先，SPM具有极高的分辨率。它可以轻易的“看到”原子，这是一般显微镜甚至电子显微镜所难以达到的。　　其次，SPM得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨率图像。而不同于某些分析仪器是通过间接的或计算的方法来推算样品的表面结构。也就是说，SPM是真正看到了原子。　　再次，SPM的使用环境宽松。电子显微镜等仪器对工作环境要求比较苛刻，样品必须安放在高真空条件下才能进行测试。而SPM既可以在真空中工作，又可以在大气中、低温、常温、高温，甚至在溶液中使用。因此SPM适用于各种工作环境下的科学实验。　　SPM的应用领域是宽广的。无论是物理、化学、生物、医学等基础学科，还是材料、微电子等应用学科都有它的用武之地。　　SPM的价格相对于电子显微镜等大型仪器来讲是较低的。　　任何事物都不是十全十美的一样，SPM也有令人遗憾的地方。由于其工作原理是控制具有一定质量的探针进行扫描成像，因此扫描速度受到限制，测效率较其他显微技术低；由于压电效应在保证定位精度前提下运动范围很小（目前难以突破100μm量级），而机械调节精度又无法与之衔接，故不能做到象电子显微镜的大范围连续变焦，定位和寻找特征结构比较困难；　　目前扫描探针显微镜中最为广泛使用管状压电扫描器的垂直方向伸缩范围比平面扫描范围一般要小一个数量级，扫描时扫描器随样品表面起伏而伸缩，如果被测样品表面的起伏超出了扫描器的伸缩范围，则会导致系统无法正常甚至损坏探针。因此，扫描探针显微镜对样品表面的粗糙度有较高的要求；由于系统是通过检测探针对样品进行扫描时的运动轨迹来推知其表面形貌，因此，探针的几何宽度、曲率半径及各向异性都会引起成像的失真（采用探针重建可以部分克服)

1983年Gerd  Binnig和Heinrich Rohrer发明了所谓的扫描隧道显微镜（STM）

扫描探针显微镜可以在液态环境下做实验吗？
可以。

日本岛津  美国AR  法国HORIBA  安捷伦

举出目前仍在生产或销售扫描探针显微镜厂家。

5 ：    说说你使用扫描探针显微镜的感想。
没用过扫描探针显微镜只用过普通的生物显微镜

帮各位大大补完
2：扫描探针显微镜的工作模式。
AC Mode
Non-Contact Mode
Contact Mode
STM
(版大出题时应该是这样想的吧,不然光AC Mode又有好几种模式了...)

3：扫描探针显微镜可以在液态环境下做实验吗？
AC 和Contact Mode都是可以的,但我没做过...有大大愿意分享过程吗?

4 ： 举出目前仍在生产或销售扫描探针显微镜厂家。
日本电子 日立 SII 本来只想到这三个
刚好昨天逛到这个
http://www.meiwafosis.com/index.html
所以第四间是MEIWAFOSIS

5：说说你使用扫描探针显微镜的感想。
不简单...
不管样品制作或实际操作都需要很多技巧,
操作环境震动也有讲究,
更不要提探针的消耗了,
只有对真空与导电度的低需求可以稍微安心一下

各位大大请用力鞭吧