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主题：请教：场发射扫描电镜可以做显微偏析吗？

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sunnysky
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2006/5/9 16:38:00 11楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
场发射恐怕也无能为力,可以试一下带面分布功能的元素分析仪
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sysmith
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2006/5/12 13:36:00 12楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 chenjianfeng 发表:
TEM倒是能看得出，不过有谁能有办法把样品的位置做得那么精确呢，运气不是一般的好。难

关键是样品制备的技术如何。我是受我老板工作的启发，他博士期间的部分工作是用TEM观察焊接熔合线上的组织演变，样品制备是其课题的关键和创新点之一。可以借鉴一下，可能能成功。
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zralnicu
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2006/5/30 16:26:00 13楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
用epma 可以试一试的。先做面扫，电压大一些，电流尽可能的小一点。大概要做到5000--7000倍。根据面扫的结果，在偏析的位置做定量分析。s的含量是少了不少，可能费劲不少。
  其实这两个元素做定量分析都不太好做，尤其是对能谱来讲。所以最终要看你表征的重点是什么，从哪个方面来说，定量的，图像的。
  仅供大家讨论。
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