主题：【讨论】透射电镜和扫描电镜那个对样品的损坏大

原文由 linzq(linzq) 发表:
那个电镜更容易损坏样品，或在观察过程中容易引起像飘移？

原文由 asahi42(asahi42) 发表:

原文由 linzq(linzq) 发表:
那个电镜更容易损坏样品，或在观察过程中容易引起像飘移？

我觉得应该是扫描对样品的破坏大吧~透射的样品漂移主要来自于支持膜变形，而扫描主要是样品本身变形，扫描把大部分电子留在样品里，而透射绝大部分电子会穿过样品。。。是不是，林老师？

原文由 julich(julich) 发表:
这个问题要从两方面来看:(1)透射电镜的电压要比扫描电镜高得多，高能电子对样品，尤其是高分子材料或者生物样品的热损伤是很大的，因为电子束轰击在样品上绝大部分能量会转变成热能，从而造成热损伤。这也是为什么生物电镜大都是120kV；（2）但是同时扫描电镜在拍照过程中，电子束在样品上慢扫描停留时间要比透射电镜长得多，从这个角度扫描的损伤又大一些！
到底什么影响大，关键是看样品，如果是导电性非常差的样品，还是透射影响大一些。因为即使是扫描看导电、导热非常差的样品，电压从1kv降到0.5kv，都能明显感觉样品的变形要小得多，这说明电压的影响是巨大的。

原文由 julich(julich) 发表:
这个问题要从两方面来看:(1)透射电镜的电压要比扫描电镜高得多，高能电子对样品，尤其是高分子材料或者生物样品的热损伤是很大的，因为电子束轰击在样品上绝大部分能量会转变成热能，从而造成热损伤。这也是为什么生物电镜大都是120kV；（2）但是同时扫描电镜在拍照过程中，电子束在样品上慢扫描停留时间要比透射电镜长得多，从这个角度扫描的损伤又大一些！
到底什么影响大，关键是看样品，如果是导电性非常差的样品，还是透射影响大一些。因为即使是扫描看导电、导热非常差的样品，电压从1kv降到0.5kv，都能明显感觉样品的变形要小得多，这说明电压的影响是巨大的。

原文由 asahi42(asahi42) 发表:

原文由 julich(julich) 发表:
这个问题要从两方面来看:(1)透射电镜的电压要比扫描电镜高得多，高能电子对样品，尤其是高分子材料或者生物样品的热损伤是很大的，因为电子束轰击在样品上绝大部分能量会转变成热能，从而造成热损伤。这也是为什么生物电镜大都是120kV；（2）但是同时扫描电镜在拍照过程中，电子束在样品上慢扫描停留时间要比透射电镜长得多，从这个角度扫描的损伤又大一些！
到底什么影响大，关键是看样品，如果是导电性非常差的样品，还是透射影响大一些。因为即使是扫描看导电、导热非常差的样品，电压从1kv降到0.5kv，都能明显感觉样品的变形要小得多，这说明电压的影响是巨大的。

首先，生物样品选择120kV是因为生物样品主要由C/H/O/N等轻元素组成，加速电压越低，衬度越好。和热损伤关系并不大。
其次，SEM中，电子束成锥形，锥底束斑在样品表面按照设定模式扫描，所以，每个时刻，样品上除了电子束经过的那个点，其它点都不受电子束影响。而TEM在常规观察（非STEM和衍射模式）时，电子束以平行光束形式穿过样品，每个时刻，光束范围内样品上的每个点全部经受照射。所以，TEM样品暴露在电子束下的时间比SEM要长。

样品导电与否，TEM并不在意。因为SEM一般利用的是SE，而SE最怕荷电；TEM用的是BSE，基本不受荷电影响。
SEM和TEM是完全不同的成像模式，不可生搬硬套。

原文由 julich(julich) 发表:
呵呵，你看来完全被所谓的书本束缚，什么东西都去找书！透射电镜没有电子束，那图像怎么形成呢？

原文由 asahi42(asahi42) 发表:

首先，生物样品选择120kV是因为生物样品主要由C/H/O/N等轻元素组成，加速电压越低，衬度越好。和热损伤关系并不大。

其次，SEM中，电子束成锥形，锥底束斑在样品表面按照设定模式扫描，所以，每个时刻，样品上除了电子束经过的那个点，其它点都不受电子束影响。而TEM在常规观察（非STEM和衍射模式）时，电子束以平行光束形式穿过样品，每个时刻，光束范围内样品上的每个点全部经受照射。所以，TEM样品暴露在电子束下的时间比SEM要长。

样品导电与否，TEM并不在意。因为SEM一般利用的是SE，而SE最怕荷电；TEM用的是BSE，基本不受荷电影响。
SEM和TEM是完全不同的成像模式，不可生搬硬套。