后续将有专属客服与您沟通!
关注微信公众号查看留言进度 接收留言处理通知
0
ID:denx5201314
行业:其他
积分:0升级还需100积分
声望:0升级还需100声望
注册时间:0000-00-00
最后登录时间:0000-00-00
原文由 chauchylan(chauchylan) 发表:呵呵,SPARK-OES的分析速度可是ICP-OES望尘末及的啊,感觉SPARK-OES在冶金行业非常给力,对于合金分析,可以没有ICP-OES,但绝对不能没有SPARK-OES,SPARK-OES对于通常的冶金控制分析,其准确度已足够用
ID:qf11fq
原文由 xurongwang(xurongwang) 发表:肯定是icp了,ICP都是PPB级别的,这个和光源有关系,和检测器件关系不大,CCD,CID使用灵活
ID:haiji22
原文由 wjl9731(wjl9731) 发表:从分析灵敏度看一定是Icp-oes更胜一筹了,Icp的检出限是PPB级的,而Spark-OES是PPM级,主要是光源的关系,与检测器关系不大,CCD,CID使用在Icp-oes上是一个很佳的方案,但是在Spark-OES就不见得是最佳方案了!这也是大家公认的!二者对样品的要求也有很大差异!各有利弊!不好对比的!
ID:shanghailab
ID:dfgj
ID:shguan
ID:Gaolj
ID:wellys
原文由 Gaolj(Gaolj) 发表:有用ICP做过黄铜中铜含量的吗?
ID:xurunjiao5339
原文由 qf11fq(qf11fq) 发表:原文由 xurongwang(xurongwang) 发表:肯定是icp了,ICP都是PPB级别的,这个和光源有关系,和检测器件关系不大,CCD,CID使用灵活ICP一般只能做到ppm级别。