主题:【分享】GC常见问题及建议

浏览0 回复7 电梯直达
happy爱米粒
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A、所有组分峰变小可能原因

建议措施


1、进样针缺陷 使用新针或无缺陷的针

2、进样后漏夜 判断漏夜点,维修之

3 、MAE UP过大:分流比过大 调整气体流速和分流比

4 、分析物质分子量过大,底挥发样品时 提高INJ。OVEN(主要柱子的最高使样品的汽化温度过低,或柱温度低 用温度)

5、 NPD被污染物(二氧化硅)覆盖 更换铷珠

6、NPD温度过高(使用或环境温度),气体不纯 更换铷珠:避免高温使用

7、不分流进样,分流阀关闭快:初始OVEN温高

8、检测器与样品不匹配

9、样品的挥发 调整样品的的浓度或选择合适的溶剂

B、峰伸舌峰伸舌多右色谱柱过载

1、减小进样量(可能需提高仪器的sensitivty 使用大容量柱子:

2、提高OVEN,INJ温度:

3、增大气体流速

C、峰高峰面积不重复

1、进样不重复,偏差大 自动进样器:加强手动进样的练习

2、其他峰型变化引起的峰错位,干扰

3、基线的干扰仪器系统参数设定的改变 参数标准化,规范化

D、负 峰

1、 Detector有数据处理系统信号极性接反 信号连接倒置

2、 TCD中,样品导热系数大于载气导热系数 选择数据处理中的“负峰处理”

3、 ECD被污染,可能在正峰后跟随负峰 清洗ECD,更换之(若有必要)

E、样品的检测灵敏度下降

1、色谱柱,衬管被污染,使活性物质灵敏度小将 清洗衬管:用溶剂(优级纯甲醇)清洗色谱柱:更换之(如有必要)

2、进样时样品渗漏(对易挥发物质更甚) 查找渗漏点

3、在splite汽化进样中,OVEN初始温度过高 用低于样品溶剂的初始温度;致使样品汽化后扩散加剧,导致撕沸点样品灵敏度下降 使用高沸点溶剂

F、 峰分叉

1、进样过激,不稳定,形成二次进样 练习手动进样:使用自动进样器

2、色谱柱安装失败 重新安装

3、 spliteless或柱头进样,样品溶剂的混合 使用相同的溶剂

4、柱子温度波动 修理稳控系统

5、 spliteless进样,量大,时间长。希望用“溶剂 在毛细管色谱柱前端安装5米的去效应“谱带浓缩时,溶剂的固定相的湿润性差 活化,未覆盖固定液的毛细管溶剂将在柱子中形成几米长,厚度不等的溶剂带破坏正常的浓缩,使峰拉宽分叉

G、峰拖尾

1、衬管,色谱柱被污染;有活性点 清洗,更换之 (如有必要)

2、衬管,色谱柱安装不党,存在死体积 注射甲烷,峰若拖尾,则重新安装

3、色谱柱柱头不平 用金刚砂切割,使之平

4、固定相的极性指标与样品分析不匹配 换匹配的柱子

5 、样品流通路线中有冷井 消除路线中的过低温度区

6、衬管或色谱柱中有堆积切割碎屑 清洗更换衬管;切除柱头10cm

7、 进样时间过长 缩短之

8、分流比低 增大分流比(至少大于20/1)

9、进样量过高 减小进样体积或稀释样品

10 、醇胺,伯胺,叔胺和羧酸类易拖尾 用极性大的色谱柱;样品衍生处理

H、保留时间漂移

1、 温度变化 检查柱温箱的温度

2、气体流速变化 注射甲烷,测定载气线速度

3、进样口泄露 检查进样垫;判断其他泄露处

4、溶剂条件变化 样品,标准品使用相同的溶剂

5、色谱柱被污染 切除柱头10cm;高温老化,清洗

I分离度下降

1、色谱柱被污染 方法同上

2、 固定相被破坏(柱流失) 更换之

3 、进样失败 检查泄露,维修之检查吹扫时间 检查温度的适应性;检查衬管

4、样品浓度过高 稀释;减少进样量;用高分流比

J、溶剂峰拉宽

1、色谱柱安装失败

2、进样渗漏

3、进样量高 提高汽化温度

4、分流比低 提高分流比

5、OVEN低

6、 分流进样时,初始OVEN过高 降低初始柱温,使用高沸点溶剂

7、吹扫时间过长(不分流进样) 定义短时间的吹扫程序基线问题
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原文由 木有才(xgy2005) 发表:
收藏的宝贵资料,一般人我不告诉他
说明我们都不是一般人啊
yifan1117
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“5、OVEN低

6、 分流进样时,初始OVEN过高 降低初始柱温,使用高沸点溶剂”这两个矛盾吗?

happy爱米粒
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原文由 yifan1117(yifan1117) 发表:
“5、OVEN低

6、 分流进样时,初始OVEN过高 降低初始柱温,使用高沸点溶剂”这两个矛盾吗?



不矛盾吧?问题焦点不同
yifan1117
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Eda
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