主题:【求助】如何分析SEM得到的图片

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zhaogod
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如上图所示,我想对一个样品看它的截面(我首先对衬底上长的一层物质进行刻蚀(大致为500nm,然后想用SEM观察这个刻蚀界面的形状)。于是,我首先以cross section的方式放好样品,而后讲样品旋转30°。最后得到上面的图样(左)。由于我是初次接触SEM故而我不能由图中分析出界面的粗糙与否(因为这里涉及到旋转了30°)。请大家给出你们的看法,这个图片该怎么分析?也请有经验的大师推荐一些分析SEM图片的资料。谢谢!
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rainyweek
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驰奔
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照片放大倍数大约为85000倍左右,宽度代表的样品区域大约为 1500nm。
断面做的不够理想,似乎表面那层膜盖在剖面上!图像调节的不够清晰。
小M
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xx2882xx
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littlebean
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sub是啥材料的?镀的膜又是啥材料呢?5000A不是很薄了。

如果你想测试刻蚀后的表面粗糙度的话,我知道AFM可以测。

想观察截面的话,一定要掰好,因为掰断的原因,形成的截面测试出来的数据会比实际值偏大一点点。
p3047445
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v2970862
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大家好,11月9日在北京举办电镜的分析技术及应用的培训,详情咨询:010-57146768或Q1846223526
cvbs11
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原文由 littlebean(littlebean) 发表:
sub是啥材料的?镀的膜又是啥材料呢?5000A不是很薄了。

如果你想测试刻蚀后的表面粗糙度的话,我知道AFM可以测。

想观察截面的话,一定要掰好,因为掰断的原因,形成的截面测试出来的数据会比实际值偏大一点点。
AFM是可以测表面粗糙度的,但是要有基面参照才可以
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