如题,在和客户做技术交流时,总有客户振振有词地提出,低真空的分辨率不应该由金标样来做,因为他认为,低真空不应该看导电的东西。话是这样没错,但是问题是,所有厂家都不会对选取什么材料来做不导电的标样达成共识。
我认为,同样一个样品,高低真空照片根本不具备可比性。原因很简单,如果样品导电,那使用低真空就是条件选择的失误,错误条件下的努力,到头来只会是南辕北辙;如果样品不导电,使用高真空也可能会导致图像的恶化,直至无法作为判断电镜分辨能力的依据。
不同于环扫,低真空本来就是一个万般无奈之下的被动选项,原理上,是以牺牲一部分分辨率换来对样品表面特征的真实还原。低真空下,能把你感兴趣的东西看清楚,目的就已经达到了。即使是场发射,要看清1-2nm的小颗粒或者是纳米线,而且样品又是高分子或者软材料,与其指着样本百般挑剔,不如直接去调研AFM。话说到底,在预算内,只要不损伤或者改变真实形貌,不管用什么方法,能把样品感兴趣的地方看清楚,分析出来,这就是判断是不是该买这款电镜的唯一标准,金标样什么的,都是浮云。
今天和朋友喝酒,谈材料,谈制造业,谈军转民,谈所有的屁民牢骚满腹却不能起任何作用的话题,憋屈得很,不知所言。
这几天在暗处观察一下大家的动态,然后决定是否放几张不同条件同一样品的照片
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若干天以后……
果然没有图的帖子大家还是不太感兴趣啊。。。样品是三氧化二铁颗粒,酒精分散后直接滴在硅片上观察。
TLD探头(高真空二次电子),适合表面细节高分辨观察的工作条件。
CBS探头(高真空背散射电子),配合减速模式(BD),加速电压为5.5kV,着陆电压为1.5kV,减速场4kV。所以,分辨率理论上不比TLD探头差,但是因为位置关系,工作距离大了,所以两相抵消。不过信号量还是可以的。
Helix探头(低真空二次电子),因为客户硬要用,所以只好硬上。其实这个样品并不适合Helix,因为本身没什么荷电,而且表面细节太浅。不过在50Pa这样的气压环境,Helix依然能保证信噪比,并且把表面的细节真实还原出来,图像效果也不错。
最后上一组10w倍的娱乐娱乐~
不过如果平时的话,用各种探头拍一个样品,还真的是蛮有意思的~