主题:【求助】消除氧化物干扰的方法

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nphfm2009
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书中提出消除氧化物干扰的方法也可以用冷等离子体技术。冷等离子体技术可以减弱氧化物干扰不理解,RF功率小,氧化物不是结合的更多吗,怎么还可以减弱呢?谢谢
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阶前尘
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消除氧化物的方法有几种,降低等离子体功率,加反应气,调整采样深度及这些方法的组合等等。但是每一种方法都是相对的,不能完全消除。主要要根据自己的检测要求。就像有人说过,你测量ppm甚至ppb级别的样品,ppt级别的影响你会很在意吗?所以一切要具体问题具体分析!
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nphfm2009
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消除氧化物的方法有几种,降低等离子体功率,加反应气,调整采样深度及这些方法的组合等等。但是每一种方法都是相对的,不能完全消除。主要要根据自己的检测要求。就像有人说过,你测量ppm甚至ppb级别的样品,ppt级别的影响你会很在意吗?所以一切要具体问题具体分析!


还是对降低等离子体功率可以减少氧化物干扰不理解,按理来说,要降低氧化物的干扰,不是要加大等离子体功率,才能打破氧化物的结合键能吗?
liudaixi33
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这个我觉得:除了功率外  还有就是其他的参数都得一起调节 不是说只调节一个参数就能达到的 比如采样深度 雾化器压力什么的  你得全面照顾 不然氧化物低了  双电荷什么的又上来了。主要看你是哪个厂家的设备,然后和工程师沟通下,看可调的参数哪些能调,调节的意义。然后再自己整下  基本OK
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envirend
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消除氧化物的方法有几种,降低等离子体功率,加反应气,调整采样深度及这些方法的组合等等。但是每一种方法都是相对的,不能完全消除。主要要根据自己的检测要求。就像有人说过,你测量ppm甚至ppb级别的样品,ppt级别的影响你会很在意吗?所以一切要具体问题具体分析!


还是对降低等离子体功率可以减少氧化物干扰不理解,按理来说,要降低氧化物的干扰,不是要加大等离子体功率,才能打破氧化物的结合键能吗?


我和你的理解一样
anhwei
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AridusII 利用加热的雾化室和加热的膜来去除溶剂干扰提高ICPMS的信号灵敏度。Aridus II 与ICPMS用来提高信号强度,同时去除基体中氢氧化物的干扰。绝大多数元素能提高3~10倍的信号强度。

    AridusII 的性能特点:

1 Aridus II 系统能够使用 HF 酸直接进样。

最大样品提升量为250um/min

PFA气动雾化器(6mm标准直径)

氧化物去除效率的测试标准是用 CeO/Ce 的比值,该比值能达到0.05%或者更低。

可选件:专用的微量自动进样器,ASX-112FR

样品以自提的形式进入 Aridus II 的PFA雾化器。排除蠕动泵进样引起的脉动效应。

AridusII 可添加低流量氮气,提高ICP-MS的信号强度。

挥发性有机溶剂能够用Aridus II进样。

9  Aridus II 能够为激光剥蚀实时添加内标,溶液样品变成干的气溶胶添加到LA-ICP-MS系统中。
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2013/1/24 20:35:39 Last edit by leemoonling
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