主题:【求助】如何做有关X射线荧光光谱法在地质样品中应用的开题设计?

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金水楼台先得月
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如果要做有关X射线荧光光谱法在地质样品中应用的开题设计,大家有什么建议,指点一下研究方向。
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sonne86400
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去过几个地矿所 感觉就是样品比较多 波谱测试工作量大 能不能寻求一个 可以快速解决 样品多任务重问题
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玉米馒头
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楼上说的不错,地质样品的问题在于样品量大,任务繁重,XRF在某些元素的测定方面检出限难以满足要求
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金水楼台先得月
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原文由 玉米馒头(alhoon) 发表:
楼上说的不错,地质样品的问题在于样品量大,任务繁重,XRF在某些元素的测定方面检出限难以满足要求


检出限很多部分取决于仪器本身。
sonne86400
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版主你还不如找几块盲样 上icp测试 然后在让wdx测试 就是关于复杂样品测试 wdx与icp的对比 同样也能检验出操作员对设备的最佳的分析的体现,单纯的已知样品数据 测试难度感觉不够大
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玉米馒头
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检出限确实在很大程度上取决于仪器以及测试条件的设置,提改进仪器啥的貌似步子迈的太多,若仅仅优化条件,确实无甚新意。
楼主所指的地质样品是单指地调样品还是包括一般常见矿石在内,前者方法已经颇为成熟,后者常见矿种方法也基本覆盖了,楼主可以考虑一些稀散矿种的选冶流程样品
该帖子作者被版主 albert8009225积分, 2经验,加分理由:说的很好。
金水楼台先得月
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原文由 sonne86400(sonne86400) 发表:
去过几个地矿所 感觉就是样品比较多 波谱测试工作量大 能不能寻求一个 可以快速解决 样品多任务重问题


快速解决的办法,现在不是有半定量的方法吗
金水楼台先得月
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原文由 玉米馒头(alhoon) 发表:
楼上说的不错,地质样品的问题在于样品量大,任务繁重,XRF在某些元素的测定方面检出限难以满足要求


主要还是前期处理的问题,其实测定时间不多。
金水楼台先得月
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原文由 玉米馒头(alhoon) 发表:
检出限确实在很大程度上取决于仪器以及测试条件的设置,提改进仪器啥的貌似步子迈的太多,若仅仅优化条件,确实无甚新意。
楼主所指的地质样品是单指地调样品还是包括一般常见矿石在内,前者方法已经颇为成熟,后者常见矿种方法也基本覆盖了,楼主可以考虑一些稀散矿种的选冶流程样品


稀散矿种指哪些?选冶流程样品指哪些?
玉米馒头
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原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:
原文由 玉米馒头(alhoon) 发表:
检出限确实在很大程度上取决于仪器以及测试条件的设置,提改进仪器啥的貌似步子迈的太多,若仅仅优化条件,确实无甚新意。
楼主所指的地质样品是单指地调样品还是包括一般常见矿石在内,前者方法已经颇为成熟,后者常见矿种方法也基本覆盖了,楼主可以考虑一些稀散矿种的选冶流程样品


稀散矿种指哪些?选冶流程样品指哪些?


比如铷、铯、铌、钽、钪等,以钪为例,原矿品位10+ ppm,精矿100+ ppm,冶金产品铝钪合金(铝镁钪合金)中含量则x%,再比如说钨矿,原矿边界品位0.1%(貌似哈),最终选矿精矿品位50%+(高含量W的重量法有多麻烦,谁做谁知道...)
该帖子作者被版主 albert8009223积分, 2经验,加分理由:应助
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