主题:【求助】XRF能测定盘条的成分吗?

浏览0 回复22 电梯直达
hlyhaha
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大家好,能用XRF测定盘条的成分吗? 盘条直径只有6.5mm 左右,而光谱的样品环要求样片直径最少30mm.这个有什么办法能用XRF测定盘条成分吗?
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sonne86400
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你这个可以测试的啊 可以找小光斑的xrf测试就好了啊
cmtbj
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原文由 hlyhaha(hlyhaha) 发表:
大家好,能用XRF测定盘条的成分吗? 盘条直径只有6.5mm 左右,而光谱的样品环要求样片直径最少30mm.这个有什么办法能用XRF测定盘条成分吗?


这种材料一般分析C, Si, Mn, S, P 元素, 用XRF不合意

您不如用直读光谱
仗剑少年游
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hlyhaha
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原文由 sonne86400(sonne86400) 发表:
你这个可以测试的啊 可以找小光斑的xrf测试就好了啊


就那一个XRF怎么找光斑小的呢?..
hlyhaha
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原文由 cmtbj(cmtbj) 发表:
原文由 hlyhaha(hlyhaha) 发表:
大家好,能用XRF测定盘条的成分吗? 盘条直径只有6.5mm 左右,而光谱的样品环要求样片直径最少30mm.这个有什么办法能用XRF测定盘条成分吗?


这种材料一般分析C, Si, Mn, S, P 元素, 用XRF不合意

您不如用直读光谱


只有XRF就为这样品在买直读的也不现实..其他都够用.
hlyhaha
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原文由 仗剑少年游(yue_qiu) 发表:
测是能测,只能半定量,告诉我关注的元素!


C.Si .Mn S.P 主要关注这个.C 可以不管,怎么测呢?样品环那么大...
sonne86400
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美女联络方式已经发站内短信给你请注意查收 期待你的联络谢谢
v2695535
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我不知道你的这个信息在哪里得到的  其他的我不知道我们最小光斑是0.5MM的。  你完全可以不用考虑这个问题
v2695535
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仗剑少年游
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如果能切割的话

切下2-5mm厚(截面为圆形)的样品,放在压片机上,周围倒上硼酸,稍微多一些,确保能将样品嵌进去。

这样你能得到一个直径6.5mm的检测面,清理一下表面可能残余的硼酸,最好能拿吸耳球吹吹或用小型的吸尘器吸一下,避免硼酸粉末检测时掉在铍窗上,如果还不放心,就加上一张mylar膜(结果需做相应矫正),其余步骤与无标半定量检测相同。

如果希望结果表征的更好一些,可以进入结果运算前的相应设置,将响应面积改成6.5mm直径的圆面积,这样归一化系数会较为接近100%。

总之一个字“嵌”。
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