主题:[求助]要对HRTEM照片进行精确的晶格应力分析应该用什么软件?

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archer33
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我想对GaAs半导体中的一层富含In元素的量子阱层进行应力或成分分析,即通过对HRTEM照片进行降噪,然后通过原子间距的变化给出一张应力分布或In元素分布的二维图像,不知道大虾们在论坛上提到的那个软件能进行这样的处理?
这种处理方法在文献中叫做DALI-Digital analysis of lattice images,有没有人对这种方法比较了解的?
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longwood
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DALI或Geometry Phase 分析均可.
Chemical composition 可以用CELFA.
最好能先看点这方面分析的文献, 如果找不到软件,自己也是有可能做的.至少Geometry phase实现上要简单些.
archer33
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谢谢楼上的热心人,你说的那个软件有下载的么?我知道DALI的程序都是几个德国的家伙搞的,但不知道哪里有现成程序。
由于我对编写程序没有基础啊,而且所剩时间也不多了,估计要等自己写出来不知道何年何月了,555
此外,DM软件能不能做这样的分析阿
我只要求能通过HRTEM照片测出富In区的原子间距,然后给个二维分布就行了。
longwood
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那个软件好像不公开.你跟作者联系试试.应该还在卡尔斯鲁厄大学.
DM本身不能做,不过有Geometry phase分析的script,可能是免费的,我记不清是哪个组了.但是是apple的版本.windows上的DM不能用.
archer33
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你说的那个Geometry phase分析的script是个软件么?还是可以作为apple上DM的插件?在网上好像搜不到,不知道能不能说的具体些,在下什么感谢你的热心帮助。。。

我也跟作者发mail了,不过估计他们不会把程序拿给别人共享吧,如果不行,只能再想起他办法了
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