主题:【讨论】关于样品被击穿的问题

浏览0 回复39 电梯直达
zhuchenhua
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原文由 仗剑少年游(yue_qiu) 发表:
压个硼酸片放在上面即可!


硼酸里有会有镍吗?我压了个硼酸的片还是测出来镍了!  后来发现我们测试的数据,居然每个都有测出镍,这正常吗?
zhuchenhua
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原文由 loaferfdu(loaferfdu) 发表:
原文由 zhuchenhua(zhuchenhua) 发表:

大家用XRF的时候有没有碰到过样品被击穿的问题啊?怎么解决的啊,我们想弄一块聚乙烯板垫在样品下面,可行吗?


垫东西的方法肯定不可行,那你测试的就不是原来的样品了,而是该样品和聚乙烯板的混合物。

其实不用做什么处理。因为XRF得到结果实质上都是比较得到的。只要你的标样材质、厚度和样品一致,定量的结果就没有什么问题。

轻基体对X射线的荧光吸收很弱,导致样品深处的原子信息也可以被探测到,但实际上由于激发X光通常都不是正入射的,检测器的窗口也不是正对着样品,实际测试到的试样空间犹如一个楔子,所谓的楔子效应(Wedge Effect).
对这种问题,解决办法有两个:
(1)对有检量线的做法,保持标样和实际样品一致即可,反正是在作比较,楔子效应就会被消除;
(2)对于基本参数法的,理论上来说,计算模型应该考虑到此类情况,用户需要输入样品的厚度,以便软件按照内部的模型处理。

话说回来,样品太薄了肯定也不是什么好事情,这会导致信号太弱。建议叠厚处理。


压了三个片放在上面测试,都测出镍了,都有峰。明天我到单位发图上来,高手帮我看看分析分析!
仗剑少年游
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压个硼酸片放在上面即可!


硼酸里有会有镍吗?我压了个硼酸的片还是测出来镍了!  后来发现我们测试的数据,居然每个都有测出镍,这正常吗?


当然不正常了!

是什么机器?
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压个硼酸片放在上面即可!


硼酸里有会有镍吗?我压了个硼酸的片还是测出来镍了!  后来发现我们测试的数据,居然每个都有测出镍,这正常吗?


当然不正常了!

是什么机器?


我明天去单位把谱图发上来,大虾帮忙分析分析,咋回事呢~~~
zhuchenhua
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过程是这样的,我一共压了三个片,分别测定一层、两层、三层样品,然后发现都出了镍的峰;

后来我压了一个硼酸的片,也出了镍的峰;

最后我测了一层样品底下垫一层硼酸,还是出了镍的峰。

但是我用其他方法验证过,样品里肯定没有镍,难道样品被击穿了?即使三层样品都被击穿了?垫硼酸也没用?

我已经完全迷茫了。。。。。。



该帖子作者被版主 lihaijun2积分, 2经验,加分理由:鼓励
zhuchenhua
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原文由 zhuchenhua(zhuchenhua) 发表:

大家用XRF的时候有没有碰到过样品被击穿的问题啊?怎么解决的啊,我们想弄一块聚乙烯板垫在样品下面,可行吗?


垫东西的方法肯定不可行,那你测试的就不是原来的样品了,而是该样品和聚乙烯板的混合物。

其实不用做什么处理。因为XRF得到结果实质上都是比较得到的。只要你的标样材质、厚度和样品一致,定量的结果就没有什么问题。

轻基体对X射线的荧光吸收很弱,导致样品深处的原子信息也可以被探测到,但实际上由于激发X光通常都不是正入射的,检测器的窗口也不是正对着样品,实际测试到的试样空间犹如一个楔子,所谓的楔子效应(Wedge Effect).
对这种问题,解决办法有两个:
(1)对有检量线的做法,保持标样和实际样品一致即可,反正是在作比较,楔子效应就会被消除;
(2)对于基本参数法的,理论上来说,计算模型应该考虑到此类情况,用户需要输入样品的厚度,以便软件按照内部的模型处理。

话说回来,样品太薄了肯定也不是什么好事情,这会导致信号太弱。建议叠厚处理。


我已经把图贴上去了,大虾帮忙分析分析,万分感谢!
里海
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你找个其他的样品测量一下,比如放个纯铁片,看看是否含镍
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zhuchenhua
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原文由 仗剑少年游(yue_qiu) 发表:

使用的是什么滤光片?之前是否做过含镍的样品?


没有用滤光片,样品台本身就是镍合金~~~用什么滤光片可能会有效果呢?

这几张图上的峰是镍的特征峰吗?
zhuchenhua
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原文由 里海(lihaijun) 发表:

你找个其他的样品测量一下,比如放个纯铁片,看看是否含镍


试过纯铅、银、铜~~~还有什么纯金属忘记了,反正是好几种吧,都有镍的峰。

但是我想,即使真叫纯X金属,里面有其他金属杂质好像也很正常啊,有全纯的物质吗?
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