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主题：【求助】XRF融片用上表面测定

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huanggehuangge
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发表于：2013/08/22 11:17:07 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
XRF融片法一直都是用下表面测定，为什么不能用上表面测定，我尝试了下用上表面去测定下（用的是下表面做的曲线），我做的是硅酸盐分析，结果是：其他元素都没啥大影响，就Si的结果有偏差（70-80%的Si测得值偏高1-2%），这是为什么，如果我用上表面做曲线再测定上表面结果会怎样，这样做有意义么？
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huier1223
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2013/8/22 11:29:04 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
你先比较一下融片的上下面的平整度再想想有没有意义。
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huanggehuangge
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2013/8/22 11:49:06 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 huier1223(huier1223) 发表:
你先比较一下融片的上下面的平整度再想想有没有意义。


我想用上表面测定，就是因为我单位的铂金坩埚底部有少量的腐蚀（自己磨平抛光了下），怕不平整有影响，如果上表面能测定准确，那以后都用上表面多好，省的担心。
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sonne86400
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2013/8/22 13:10:50 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
你不妨试试看呢  还有你的样品是否均质也很重要  但是结果差了这么多很奇怪哦  不知道是否有别的元素干扰
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XRF_INFO
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2013/8/23 0:00:19 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
上表面不平。我想应该主要是这个造成的。
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sweetapple986
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2013/8/23 11:51:00 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
有点腐蚀不要紧，X射线是有穿透性的，能把熔片里面的物质也激发出来，元素越重越能把深层的激发出来，这样表面的影响就相对小了。例如铁镍等金属元素，熔片表面就算很差，影响也几乎可以忽略。这个我是做过测试的。轻元素如镁铝硅可能会有些影响，不过也很小，而且这些元素本来允许误差范围就大。
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2013/8/23 11:53:44 Last edit by v2644276
仗剑少年游
yue_qiu
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2013/8/23 15:29:45 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我有一个猜想，未必正确啊，我感觉浓度梯度在形成融片的过程中其实是难以避免的，考虑到炼钢过程中，熔渣都浮在上面，是不是这个成因类似？
BTW，熔渣成分一般为硅铝酸盐。
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sweetapple986
v2644276
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2013/8/23 16:21:03 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 仗剑少年游(yue_qiu) 发表:
我有一个猜想，未必正确啊，我感觉浓度梯度在形成融片的过程中其实是难以避免的，考虑到炼钢过程中，熔渣都浮在上面，是不是这个成因类似？

BTW，熔渣成分一般为硅铝酸盐。


炉渣无法跟铁水形成熔体，就像碳酸钙无法溶入水中而形成了沉淀（炉渣比铁水轻所以是浮起的），物相还是多相的。而硼酸盐与氧化物熔融发生化学反应形成的硼酸盐化合物，是单相物质。类似食盐溶于水，形成均匀的溶液（虽然反应原理不同，但现象类似）。
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2013/8/23 16:25:58 Last edit by v2644276
sweetapple986
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2013/8/23 16:24:33 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
重复了……
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2013/8/23 16:25:22 Last edit by v2644276
里海
lihaijun
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2013/8/23 17:47:25 9楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我想这个问题主要是怕上表面受到污染，没有其他影响应该，融片本身的成分非常均匀，不会因为测量哪个面而产生变化的。至于说为啥结果差了，我想应该是你的样品平整度不一样，距离光管的距离变化造成的，但是结果应该呈比例的，高含量差得多，低含量差的少
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czhua
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2013/8/28 11:23:47 10楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
上表面哪有下面的平整，测量时会漏缝。
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