主题:【第六届原创】采样频率对谱图的影响

浏览0 回复38 电梯直达
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前言:前几天看了坛友开的一个关于采样频率的贴子,虽然一直都知道是怎样的影响,但没有做过实验,究竟影响有多大,却不怎了解。趁最近比较有空,就做了几个谱图出来,与大家分享下。



仪器:安捷伦7890A-5973C

说明一下

在我用的软件版本中,在全扫描模式下,是有三种扫描速度

1.6000amu/s 虽然仪器没有给出,但可以算出来。

2.10000amu/s 后面两个模式,都是规定了采样频率是1的(就是20次方)

3.12500amu/s 后面的两个模式,是仪器有给出的提示。数据占用较大的内储。

扫描范围是50-550 总共 500amu

我是用第一种正常的扫描速度来进行实验。包括单SCAN模式和SCAN/SIM同扫模式。谱图的分析是用AMDIS软件进行。

先上几张SCAN的图,再解释,采样时间,点数,扫描停留时间,峰形等关系。

采样频率:在全扫的过程中,每一个amu读的次数。(个人想法,如果错误请指正)

这是一张采样频率是2的图(4次)



采样频率是38次)



采样频率416次)



采样频率/0.1分钟内点数/成图有效点数/两点数间隔时间(成点时间)
21990.005/0.006
31050.011/0.012
4630.021/0.022


从三个图就能明显看到,随着采样频率的增大,采样点数减少,成点时间都增多。

在这里解释一下,成点时间。

谱图里的每一个点,都是完成一个50-550amu扫描循环才会形成一个点。

在仪器采样频率的更改里,我们可能看得出.采样频率是2的情况下,做一个50-550的间区扫描,能做每秒2.91个循环,在采样频率是0下,能做出9.91个。

但实际上。(在6000amu/s的情况下,在采样频率是0(即每个amu只采一次),每秒应该能形成12个循环。)*

从这里我们可以证实教材里的一个事实:每个循环之间都是有一个停顿调整时间。(从55050,再回到从550-50

从()里的数据,我们可以得出。扫描500amu的时间为约0.083秒,每个循环停留时间约在0.021~0.022秒之间。从10000amu/s在采样频率是0下,只有14.41个循环,也能验证出这个停留时间。

再看采样频率是2时,成点时间是0.005/0.006分钟,在安的GCMS运行时,1分钟(60秒)是分拆为100次的,我们换回实际的秒数是在0.30-0.36间。

采样频率是2,即是每amu4次,50-500amu就是采集2000次,再正常6000/s下,一个循环时间是0.33秒。加上停留时间0.021,是在成点时间之内。

所以我认为成点时间在SCAN下,是一个循环的时间+停留时间

从下一张图,我们看看三者的峰形



从图中可以看出,三者的丰率差别不大,但从峰形的圆滑情度,明显是成点数越多的越圆滑,从抛物线向三角形变化。在同样的时间9.000分钟下,采样频率2的扫描峰是第7713的是3974的是202。这样出造成,数据文件是2>3>4

由于做的数据不多,暂未看出234三种情况下对检测的稳定性造成什么影响。

解释一下,采样频率为是什么最多是7。因为一个好峰的停留时间大概也就3秒左右。四极的最大检测amu800(不知道为什么调谐那能上1000)。那算起来也就只能采集到一个点多点。

对于SCAN/SIM的图我就不上传,给点我的数据大家就算了。

采样频率/0.1分钟内点数/成图有效点数/两点数间隔时间(成点时间)
01790.006/0.007
21160.010/0.011
3740.015/0.016


情况与SCAN的规律是一致。

由于成点时间比SCAN模式的变长,所以成图点就相对比较少。

对于SCAN/SIM的成点时间是由SCAN的一个循环扫描时间+SIM的停驻时间+循环间停留时间组成

从这,我们也可以证实,SCANSIM是互相交叉进行的。(但这也出现一个想不通的地方,在后面向大家求证)

下面这个图能表现出采样频率对灵敏度的影响。



这是一张采样频率是0(黑色线)采样频率2(蓝线)的TIC叠加图。

从图中我们发现,SIM的峰形是基本重合的,但TIC图就差别很大。黑线丰度是250W,蓝色是400W。(注:只证明我的方法,在采样频率是0的时候的问题,不代表你们的方法也可能出现)只证明,采样频率不同确实出灵敏度有影响(安的某份培训资料也有影响图谱)

改变扫描范围,也是影响到扫描循环。

前面说过对于SCAN/SIM模式同扫情况下有个疑问:

同样的时间下,比如9.000分,TIC的图扫描的是第431个点,但同样时间里SIM图扫描的是第435个点。这是为什么呢?经观察还发现,TIC的第一个扫描点的时间是4.598SIM的第一个点是4.593,这说明在同扫的情况下,SIM是先开始,然后才是TIC全扫。出现同时间不同的点的情况,难道是TICSIM是两个相独立的数模系统转换的原因?(同一样东西,你数你的,我算我的,各不相干)

THE END!

附件是一份网上的资料《扫描速度对调谐的影响》的论文,分享给大家
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平时测样,楼主用多少的釆样频率?


一般都是用2吧
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平时测样,楼主用多少的釆样频率?


一般都是用2吧


我们用的也是2.
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千层峰
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一个峰,采集点数越多,峰型越好看。
关于SCAN和SIM,我也认为它们在采集数据的时候是各做各的。
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平时测样,楼主用多少的釆样频率?


做样的进时候用SCAN/SIM同扫。频率是2
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一个峰最少10个点


在SCAN下,循环数乘以峰宽,大约能算出是多少。2的情况下,基本能采集到12点。
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一个峰最少10个点


在SCAN下,循环数乘以峰宽,大约能算出是多少。2的情况下,基本能采集到12点。
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