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X射线衍射仪（XRD）

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主题：求助我们这里将要做钛白粉的晶粒度，请教大家有什么方法

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发表于：2006/07/22 17:53:00 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

我们这里将要做钛白粉的晶粒度，请教大家有什么方法

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2006/7/22 19:47:00 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

当粉末样品的晶粒度小于100nm时，可以使用XRD方法，计算衍射峰的半高宽，然后用谢乐公式公式。有些软件如JADE中就有现成的计算方法，只要测量出了衍射谱，2分钟之内就可以搞定的。本版中多次有人问到相同的问题，建议你搜索一下本版相关的内容。比如下面的这个回复：

http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20060705/475917/
http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20050516/162976/

当晶粒度大小100nm时，用X射线衍射仪方法就无能为力了，但也可以使用其它的衍射方法，比如《金属X射线衍射》一书中就有专门一节提到这种方法。

当然，抛开XRD方法也可以使用如TEM的方法，因为TEM可以直接观察到晶粒，软件中有一个很小的软件，用鼠标一划，晶粒尺寸就出来了。虽然要一个粒子一个粒子地计算有就麻烦而且可能粗燥，但多划几个晶粒然后计算它们的平均，我认为还是可以接受的。本人曾用XRD和TEM方法计算过相同的样品，它们是相同数量级的，精确度也可以接受。而且TEM还有个好处就是不管样品成某种相的含量高低，基本上都可以找到，而XRD方法则要求所测物相的含量较高。比如，铝合金中的GP区，在XRD中是测不出来的，看不到它的衍射峰，但它们确实存在，在TEM中可以清楚地看到，而且可以测量出它的晶粒尺寸，当然，要求TEM的放大倍数要相当的高。
也许有人会看到这个回复会相到金相方法或SEM方法，确实是这样的，它们也可以用来测量晶粒度。这就可要样品的晶粒较粗。而且，如果用SEM方法测量，本人更偏向于认为是样品粉末的“颗粒度”而不是晶粒度了。因为若干个晶粒可以团集成一个“颗粒”。

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