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主题：【讨论】如何对Spark-OES最灵敏线的自吸或自蚀效应进行数学校正？

浏览0 回复6 电梯直达
chauchylan
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发表于：2013/09/05 18:40:19 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
如何对Spark-OES的自吸或自蚀效应进行数学校正？

对较高含量的合金元素进行Spark-OES光谱分析时，通常其最灵敏线存在自吸或自蚀效应，如何建立数学模型对其进行校正？
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zhltyj
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2013/9/5 19:40:01 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
这个有点难度，有研发经验的来回答吧！
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=牛魔王=
yonglinxu
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2013/9/5 20:21:30 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
自吸不严重的好像可以 形成自蚀的据说就没法用啊 等着专家的新成果哦
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2013/9/5 20:22:27 Last edit by yonglinxu
老头
shguan
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2013/9/10 16:53:27 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
含量与光强都不对了，校正有意义吗？如果就是这一条线了。就直接做曲线。也可以测试的。注意范围不要太大了。曲线可能是反向的。或开口向下了。老头
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wccd
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2013/9/11 15:00:58 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
自吸也要分几种状态来分析。
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chauchylan
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2013/9/11 21:27:43 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 wccd(wccd) 发表:
自吸也要分几种状态来分析。









如何对上述自吸曲线建立数学模型进行拟合？？？
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chemchenxj
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2013/9/13 9:57:00 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 chauchylan(chauchylan) 发表:
如何对Spark-OES的自吸或自蚀效应进行数学校正？

对较高含量的合金元素进行Spark-OES光谱分析时，通常其最灵敏线存在自吸或自蚀效应，如何建立数学模型对其进行校正？


对于OES来说，通常会选择其灵敏线作为分析线，其对微量元素有较低的检出限和较高的准确度，但如果测量元素含量较高，谱线就会自吸甚至自蚀，造成工作曲线弯曲，测量准确性下降，此时一般都是另外选择次灵敏线进行分析。

如果仪器内部没有配置另外高含量通道的话，就比较麻烦了，但我觉得大家平常使用的谱线是普遍存在自吸的，只要不是特别严重，在恰当的浓度范围内使用稍微弯曲的曲线也没什么问题的。

在摄谱分析中，也存在自吸的问题，见过有人有谱线宽度法测量不同含量的银，不是直接测量谱峰位置的强度，而是先进行谱线扫描，记录下谱峰左右两侧对应的某一相同强度的位置差，绘制位置差与浓度的工作曲线，进而提高了浓度测量范围。在Spark-OES光谱分析中，建立数学模型对谱线的自吸进行校正，暂时未看到这方面的报道，如果有的话，是否可以拓宽灵敏线的测量范围呢？拭目以待啊
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