主题：【求助】微米级粉末的TEM试样如何制备

原文由 洪星二锅头(coime) 发表:
既然是球磨得到的微颗粒，是否可以继续球磨至更小的尺寸

1、如果样品制备只是几个的话，可以考虑，一个样品就几千的测试费

2、你的理解没有错，透射电镜一般观察的厚度在100nm一下

3、目前用于电镜的包埋剂最好是不是完全绝缘的，能导电，M610和G1应该多可以，至于使用方法，你买的时候可以咨询卖家或者其他实验室实地观察一次就知道了

4没有说那个更加容易，两种方法均能获得你所需要的东西，但是需要你去尝试后，根据自己实验室条件，那个方法更加合适更便你的使用

原文由 洪星二锅头(coime) 发表:
你可以去北大的物理系电镜室问问
清华的联系过几次，没有去成，不好说怎么样
北京科技大学的方克明老师在制样方便算是不错的，你可以联系联系

原文由 洪星二锅头(coime) 发表:
你可以去北大的物理系电镜室问问
清华的联系过几次，没有去成，不好说怎么样
北京科技大学的方克明老师在制样方便算是不错的，你可以联系联系

原文由 白天困(v2777840) 发表:
首先，含有内核的微米颗粒透射观察用分散法制样效果很差！大多数情况只能看到一个黑疙瘩。

目前市场上能够买到的树脂与颗粒结合程度都不太高。且一般情况下，颗粒的强度都远远大于树脂。所以用树脂包埋不能用切片法，因为颗粒很难被切开。只能通过适当能量的离子减薄处理。离子减薄的条件会很苛刻。

比较成熟的做法是金属包埋+离子减薄。金属包埋简单地讲，就是将颗粒电镀，只要镀层足够厚就能包裹住样品。因为颗粒与包埋的金属结合情况要比树脂包埋强很多，所以再进行离子减薄就会相对简单。

原文由 黄石道人(v2722760) 发表:

原文由 白天困(v2777840) 发表:
首先，含有内核的微米颗粒透射观察用分散法制样效果很差！大多数情况只能看到一个黑疙瘩。

目前市场上能够买到的树脂与颗粒结合程度都不太高。且一般情况下，颗粒的强度都远远大于树脂。所以用树脂包埋不能用切片法，因为颗粒很难被切开。只能通过适当能量的离子减薄处理。离子减薄的条件会很苛刻。

比较成熟的做法是金属包埋+离子减薄。金属包埋简单地讲，就是将颗粒电镀，只要镀层足够厚就能包裹住样品。因为颗粒与包埋的金属结合情况要比树脂包埋强很多，所以再进行离子减薄就会相对简单。

老师你好，

电镀？请问你有做过这个？我能否和你进一步讨论这个问题。