主题：【求助】关于特征谱线变宽

原文由 sonne86400(sonne86400) 发表:

谱线变宽对你测试的结果还有影响的 有变动联络厂家工程师咨询下

原文由 wzxjjs(wzxjjs) 发表:
大家好！不知大家有没有关注过谱线变宽问题？理论上特征谱线应该是一条直线，是吧？

关于谱线变宽书本上貌似介绍得不多，寥寥数语一笔带过。目前找到书本上关于谱线变宽的原因

1是经准直器后准直不好的辐射会使谱线变宽；

2.基体效应是谱线不是直线的可能原因之一。

还有其他解释吗？

原文由 loaferfdu(loaferfdu) 发表:

我说一点个人理解，供参考，也供大家讨论。这个问题国内的XRF专著讨论这个的很少，倒是老外写的专著有涉及，不过通俗易懂就说不上了。这里说一点我个人的理解。
为什么XRF谱图上看到是峰，而不是一个几何的线，几点理由如下：
1. 首先谱线是由电子在能级间跃迁产生，能级本身是有宽度的，根据Heisenberg的不确定关系，ΔE·Δt ~ h，（h是普朗克常数），能量和时间不能同时准确测得，这个动量和位置不能同时测试是一样的。
因此跃迁产生的谱线本身是由自然宽度的，通常这个宽度在2eV左右；

2. 谱线的检测分成能量色散和波长色散，分开来讨论。

原文由 wzxjjs(wzxjjs) 发表:
大家好！不知大家有没有关注过谱线变宽问题？理论上特征谱线应该是一条直线，是吧？

关于谱线变宽书本上貌似介绍得不多，寥寥数语一笔带过。目前找到书本上关于谱线变宽的原因

1是经准直器后准直不好的辐射会使谱线变宽；

2.基体效应是谱线不是直线的可能原因之一。

还有其他解释吗？

原文由 loaferfdu(loaferfdu) 发表:

原文由 wzxjjs(wzxjjs) 发表:
大家好！不知大家有没有关注过谱线变宽问题？理论上特征谱线应该是一条直线，是吧？

关于谱线变宽书本上貌似介绍得不多，寥寥数语一笔带过。目前找到书本上关于谱线变宽的原因

1是经准直器后准直不好的辐射会使谱线变宽；

2.基体效应是谱线不是直线的可能原因之一。

还有其他解释吗？

准直不好与谱线变宽无关，准直器只是限制X光行进的方向，不会选择波长。

基体效应看你怎么理解了，如果你认为样品本身的能级或者能带会使得谱线展宽，这个是对的，不过我们通常意义上，XRF术语中的基体效应是有确切的定义，并不是上述的意思。

综合起来说，我不知道你看到什么书上把谱线展宽的原因归结为这两个因素，但是我个人并不觉得这两个因素影响很大。

原文由 wzxjjs(wzxjjs) 发表:

原文由 loaferfdu(loaferfdu) 发表:

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大家好！不知大家有没有关注过谱线变宽问题？理论上特征谱线应该是一条直线，是吧？

关于谱线变宽书本上貌似介绍得不多，寥寥数语一笔带过。目前找到书本上关于谱线变宽的原因

1是经准直器后准直不好的辐射会使谱线变宽；

2.基体效应是谱线不是直线的可能原因之一。

还有其他解释吗？

准直不好与谱线变宽无关，准直器只是限制X光行进的方向，不会选择波长。

基体效应看你怎么理解了，如果你认为样品本身的能级或者能带会使得谱线展宽，这个是对的，不过我们通常意义上，XRF术语中的基体效应是有确切的定义，并不是上述的意思。

综合起来说，我不知道你看到什么书上把谱线展宽的原因归结为这两个因素，但是我个人并不觉得这两个因素影响很大。

谢谢 您的专业解答。我们的是波长色散X射线荧光光谱仪。

XRD中也存在衍射线展宽问题，除了晶粒细化外，“衍射线展宽大部分来自仪器效应”，看了您的解答，看来XRF的谱线展宽也是大部分来自仪器效应，有分光晶体的影响，更多的是来自两个探测器的影响吧？看了下书，”理想的探测器除了对合适的光子能量应是灵敏的，还需具备两个重要的性质--正比性和线性“，也就是您说的目前的探测器存在统计上的涨落。具体怎么把衍射峰左右两边的能量跟波长联系起来我还需再琢磨琢磨，也希望您能推荐几本相关书籍。

《材料科学与技术丛书--材料的特征检测》这本书不错 全是老外写的国人翻译的，第2A卷，第9章X射线荧光分析是Ron Jenkins的大作，P551页说到“在两个吸收限之间，随着入射X射线光子的波长变长而吸收增加。这个特殊效益非常重要，尤其在定量X射线光谱学中，因为离开样品的一束特征光子的强度取决于组成样品的不同原子的相对吸收效应。这个效应称为基体效应，并且这也是作为元素浓度函数的特征谱线的强度可能不是直线的原因之一”，写到这忽然发现是不是我理解错了？这里应该指的是不经校正不同浓度元素的工作曲线可能不是直线的意思吧...