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X射线衍射仪（XRD）
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主题：【分享】如何构建一个基于X射线的分析体系

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发表于：2013/11/19 11:18:10 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
各位XRD版块的网友和大神们，一些拙见，希望大家参与讨论，由于已经参加原创大赛，这里不另行发帖了。

主帖传送门：

http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20131102/5042259/
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iangie
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2013/11/29 0:08:31 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
这感觉不新鲜啊~
粉体表征不都是XRD XRF QEMSCAN TEM一起用的吗?
布鲁克的EVA软件就是用XRF信息帮助XRD寻相, 用XRD定量分析减去XRF的元素信息获得amorphous的元素信息....

QEMSCANE, SEM/EDS需要用于比较大块(>5微米)的样品, 最好还要树脂包埋抛光才能比较准.

基于SEM/EDS的技术有个特别大的问题是电子束穿透梨形采样体积的问题, 你虽然是在软件上把电子束聚焦到一个particle上, 但你怎么保证所采集的谱不包含周围的particle的信息呢? 特别是当particle小于1微米时....

我一般更相信TEM的EDS, 至少颗粒可以分散得很开~
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