主题:我是新手,想问几个XRD的问题.

浏览0 回复9 电梯直达
foremind
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第一,生长在硅或玻璃衬底上薄膜样品怎么测XRD,怎么制样,怎么消除硅或玻璃衬底的影响.
第二,一般的XRD能否测小角X衍射,角度大约在0~6度.
第三,X-ray reflectivity ,X-ray diffraction,WAXD 有什么区别?
谢谢!
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edwardxiguang
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0243012026
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第二个问题是
必须添加小角度附件。
一度之内跟本用普通的方法无法测量
而1-6度,或者说90度内的,测量准确性都比较低
foremind
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谢谢你
我跟各位测量XRD的目的可能不同,我主要想测量孔
径的大小,作过类似的交流一下!
dinosaurwu
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一般来说,在硅陈地上只要尺寸合适可以直接送去做XRD
cxlruzhou
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直接就能送去测试的。
也可以和测试人员交流下,样品大小做的好,测试也方便。
dinosaurwu
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一般的XRD 比如说是国产的,通常是用滤波片,当小角度的时候,很容易损伤探测器,因为这个时候光基本上全打在探测器上了,相当于掠入射。用单色器的机子好像没有这个问题。
wustliang
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关于第一个问题.
是可以测量的.
具体方法:
将一次光路(发射端)掠射角度控制在0.5-2度
将二次光路(接收端)在10-90度范围内扫描就可以了.
wustliang
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关于第二个问题.
一般的衍射仪测定2-5度的范围是问题不大的,但一定要注意加衰减器.
我做过0.5度的!
xutao2004
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