原文由 萨染梓(v2837541) 发表:
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扫基线时,仪器要同时测试参比和样品位置光强度,然后储存起来才能扣背景
你好,我想问一下,测基线时,参比槽的作用是什么?参比槽和样品槽必须一样吗? 我以前以为,参比槽和测基线的目的一样,就是测基线是把背景储存起来,每次测电脑直接扣除,所以这里不用参比槽。当用参比槽时,不用测基线,直接样品槽的扣除参比槽的背景就是了。
从仪器原理及设计上说,扫描基线时参比槽和样品槽内的试液是可以不一样的,这是毋容置疑的。
但双光束仪器的参比槽对大多数化学分析测试来看,主要作用只是减少参比溶液受温度漂移的影响。从这一个目的来说,扫描基线时参比槽和样品槽必须一样才能很好地抵消溶液的吸光性能漂移,因此大部分双光束仪器测试溶液的规范操作都要求两者一致。
不管参比槽放不放参比液,只要测试时先用参比液放在样品槽置零或扫基线,然后再放样品测试,大部分情况下都能得到准确的结果;前提是你的参比液吸光度不能太大,比如说参比
液相对于蒸馏水的吸光度小于0.5;但对于双光束仪器来说,参比槽不放参比液这么干可能属于不规范操作,这要看你的测试项目是不是有该项规范要求了。
扫描基线只是相当于全波段范围内置零作用,如果你只是测一个波长下的吸光度,那不扫基线也没关系,只要先用参比液清零就行;如果要测一段波长范围内的吸收光谱或透射光谱,那就得先扫基线。