主题:如何使用显微镜来查看双折射现象?

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gsyy
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请教大侠们:如何使用显微镜来查看双折射现象?
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我是砖家
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试解一下, 用偏光显微镜, 仅用启偏器, 打小视场光阑, 用平行光, 调整样品与载物台之间的夹角及方向(改变晶轴方向及入射角), 旋转载物台, 用物镜观察.
shaolin
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原文由 leicafans 发表:
试解一下, 用偏光显微镜, 仅用启偏器, 打小视场光阑, 用平行光, 调整样品与载物台之间的夹角及方向(改变晶轴方向及入射角), 旋转载物台, 用物镜观察.

可否详细解释一下?
我是砖家
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晶体对偏振光中O光与E光有不同的折射率导致了双折射现象, 要满足这条件, 首先用启偏器得到线偏振光, 要看到不同光点, 自然是提供一个点光, 所以最好是在一不透光的板上开一小孔,(视场光阑或许大了点) 另外晶轴是有空间方向性, 所以要调整样品与载物台之间的角度与角度方向. 在条件满足时, 在晶体另一侧会有两个光点出现. DIC中渥拉斯顿棱镜就是利用了双折射现象.
在共聚焦显微镜中, 如果用了该棱镜, 在大ZOOM下看小荧光点就会发现有两个相同的光点出现或圆点成了腰形. 这是多数使用者不注意的地方. 不知我的说法对否, 如有错误希望指正.
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