使用定量加样系统减少样品制备过程中的错误和超差(OoS)
时间:2014年10月14日 14:30
讲师:董文忠先生,梅特勒-托利多公司天平部产品主管,
具有7年的天平产品管理、市场推广经验,并参与起草《JJG658-2010 烘干法水分测定仪检定规程》。现主要负责Quantos自动化定量加样系统及其它称量解决方案的市场开发和应用支持。
讲座内容:
HPLC/GC等实验分析过程中,超过50%的实验误差源自标准品/样品溶液的制备,且该过程耗时又费力。梅特勒-托利多将给您的实验室带来一场革命:Quantos自动化粉末/液体定量加样系统,实现流程中的关键步骤的自动化,例如称量、加入溶剂、稀释,将始终为您提供正确的结果,减少超差(OoS)结果。
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1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。
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3、报名截止时间:2014年10月14日 14:00
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