主题:【求助】在回归校正“干扰谱线”的重叠影响时,干扰谱线的信息要明细到啥程度呢

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envirend
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如上表,对Hf的LA1谱线有干扰的谱线有谱线Zr KA II 和Sr KB1II--1.其中的“II”是啥意思? 2.在回归校正时需要将“Zr KA II 和Sr KB1 II”一字不落的输入还是只输入“Zr KA  和Sr KB”就可以了呢?
推荐答案:loaferfdu回复于2014/11/06


样品发出来的荧光,包含了各种元素的信息,就像一团浆糊。一团浆糊是没有办法分析的,WDXRF中,使用布拉格反射分光。使用不同的晶体如LiF、PET等等,不同波长的荧光其反射角(衍射角)不一样,2dsinθ = n λ,对于同样的衍射角θ而言,当n=1时,会有某个波长满足这个式子,当n=2时也会有另外的波长满足这个式子。比如你举的例子表格中45.92°,HfLa1满足n=1的情况, ZrKa的波长接近满足n=2的情况,所以ZrKa的二次线就在HfLa1谱线附近,这就是高次线干扰。如果样品中含有Zr比较高,Hf比较低,就需要考虑Zr高次线的干扰。在土壤、陶瓷这类样品中,需要特别注意这一点。
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loaferfdu
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1. 我猜II是高次线的意思,你所看的书应该对这个标记有说明的吧,
2. 应该只需要输入ZrKa就可以了
不过建议你还是和厂家的应用工程师确认。
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1. 我猜II是高次线的意思,你所看的书应该对这个标记有说明的吧,
2. 应该只需要输入ZrKa就可以了

不过建议你还是和厂家的应用工程师确认。


谢谢你的解答。

1. 我猜II是高次线的意思,你所看的书应该对这个标记有说明的吧,

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高次线(是否还有低次线)是咋回事呢?  我主要看的是论文,没有涉及这方面知识。


2. 应该只需要输入ZrKa就可以了


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  我看了一下工程师给我们所建的曲线,谱线干扰和你所说的一致。
仗剑少年游
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谢谢你的解答。

1. 我猜II是高次线的意思,你所看的书应该对这个标记有说明的吧,

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高次线(是否还有低次线)是咋回事呢?  我主要看的是论文,没有涉及这方面知识。



样品发出来的荧光,包含了各种元素的信息,就像一团浆糊。一团浆糊是没有办法分析的,WDXRF中,使用布拉格反射分光。使用不同的晶体如LiF、PET等等,不同波长的荧光其反射角(衍射角)不一样,2dsinθ = n λ,对于同样的衍射角θ而言,当n=1时,会有某个波长满足这个式子,当n=2时也会有另外的波长满足这个式子。比如你举的例子表格中45.92°,HfLa1满足n=1的情况, ZrKa的波长接近满足n=2的情况,所以ZrKa的二次线就在HfLa1谱线附近,这就是高次线干扰。如果样品中含有Zr比较高,Hf比较低,就需要考虑Zr高次线的干扰。在土壤、陶瓷这类样品中,需要特别注意这一点。
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2014/11/6 20:17:16 Last edit by loaferfdu
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1. 我猜II是高次线的意思,你所看的书应该对这个标记有说明的吧,

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高次线(是否还有低次线)是咋回事呢?  我主要看的是论文,没有涉及这方面知识。



你现在的进度,不建议看论文,而是建议你去看看《X射线荧光光谱分析基础》,梁钰编写的。这个书比较简单一些,真正要看的内容200页不到,可以依赖此书迅速入门,掌握XRF理论的大框架。吉昂老爷子的书实例比较少,读起来比较难一些。罗立强的书,基本原理部分有些错误,看的时候要当心,从那些错误来看,罗显然没有选修过普通物理之类的课程,呵呵。
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1. 我猜II是高次线的意思,你所看的书应该对这个标记有说明的吧,

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高次线(是否还有低次线)是咋回事呢?  我主要看的是论文,没有涉及这方面知识。



你现在的进度,不建议看论文,而是建议你去看看《X射线荧光光谱分析基础》,梁钰编写的。这个书比较简单一些,真正要看的内容200页不到,可以依赖此书迅速入门,掌握XRF理论的大框架。吉昂老爷子的书实例比较少,读起来比较难一些。罗立强的书,基本原理部分有些错误,看的时候要当心,从那些错误来看,罗显然没有选修过普通物理之类的课程,呵呵。


梁钰这本书大赞,简单易懂,很多总结性的东西,附录后面那个谱线干扰表查询方便,我是看这本书入门的。后来才看吉昂老师的书,理论性强一些,知识性也更强。
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2014/11/6 21:06:48 Last edit by v2644276
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样品发出来的荧光,包含了各种元素的信息,就像一团浆糊。一团浆糊是没有办法分析的,WDXRF中,使用布拉格反射分光。使用不同的晶体如LiF、PET等等,不同波长的荧光其反射角(衍射角)不一样,2dsinθ = n λ,对于同样的衍射角θ而言,当n=1时,会有某个波长满足这个式子,当n=2时也会有另外的波长满足这个式子。比如你举的例子表格中45.92°,HfLa1满足n=1的情况, ZrKa的波长接近满足n=2的情况,所以ZrKa的二次线就在HfLa1谱线附近,这就是高次线干扰。如果样品中含有Zr比较高,Hf比较低,就需要考虑Zr高次线的干扰。在土壤、陶瓷这类样品中,需要特别注意这一点。

  谢谢你热情耐心的解释,我听明白啦。确实,土壤中Zr含量要比Sr高一个数量级。
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1. 我猜II是高次线的意思,你所看的书应该对这个标记有说明的吧,

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高次线(是否还有低次线)是咋回事呢?  我主要看的是论文,没有涉及这方面知识。



你现在的进度,不建议看论文,而是建议你去看看《X射线荧光光谱分析基础》,梁钰编写的。这个书比较简单一些,真正要看的内容200页不到,可以依赖此书迅速入门,掌握XRF理论的大框架。吉昂老爷子的书实例比较少,读起来比较难一些。罗立强的书,基本原理部分有些错误,看的时候要当心,从那些错误来看,罗显然没有选修过普通物理之类的课程,呵呵。


谢谢你的好建议,不过我有点悲催,按照厂家工程师的建议购买了吉老师、罗老师、张老师为第一编者的三本书----我干脆不看罗老师的书啦,吉老师的书确实让我头大看不下去,今后我会买梁老师的书。
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2014/11/7 8:22:43 Last edit by envirend
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你现在的进度,不建议看论文,而是建议你去看看《X射线荧光光谱分析基础》,梁钰编写的。这个书比较简单一些,真正要看的内容200页不到,可以依赖此书迅速入门,掌握XRF理论的大框架。吉昂老爷子的书实例比较少,读起来比较难一些。罗立强的书,基本原理部分有些错误,看的时候要当心,从那些错误来看,罗显然没有选修过普通物理之类的课程,呵呵。

梁钰这本书大赞,简单易懂,很多总结性的东西,附录后面那个谱线干扰表查询方便,我是看这本书入门的。后来才看吉昂老师的书,理论性强一些,知识性也更强。

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  谢谢你的经验之谈,以后要多帮助我们这帮落后生。
kgdrh
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