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主题：【原创】12月24日 用于XPS深度剖析的MAGCIS复合型离子源（赛默飞）

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发表于：2014/11/10 11:35:07 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊




用于XPS深度剖析的MAGCIS复合型离子源



讲座时间：2014年12月24日 14:00


主讲人：葛青亲



葛青亲博士，2013年毕业于复旦大学物理系凝聚态物理专业。博士期间从事复杂量子材料的光电子能谱研究。使用基于同步辐射与激光的电子能谱系统，研究对象涵盖高温超导，铁基超导，Mott绝缘体等关联体系，及人工异质界面和有机功能分子材料等低维体系的电子结构研究。拥有丰富的电子能谱系统操作、搭建和光电子能谱数据处理经验，博士期间多次赴美国、日本、德国、意大利等同步辐射中心进行交流合作，在Nature Physics、Physical Review X等国际一流杂志发表论文10余篇。现为赛默飞应用专家。




【简介】




XPS是极其表面敏感的技术手段，而我们所要研究的很多“表面”问题并不都是在样品表面10nm以内。如触摸屏表面涂层、低辐射玻璃表面镀膜以及太阳能电池、OLED等层状器件材料的研究，我们不仅仅要了解材料表面微米尺度的元素分布信息，还要关心层结构之间的界面性质。这时我们就需要结合离子束溅射剖析手段，将XPS测试手段从表面分析拓展到体内微米尺度。材料科学的发展要求我们在XPS深度剖析时使用一个性能优越的溅射离子源，以实现无机材料的高效剖析以及有机材料的无损溅射。

在本次报告中，我们将和大家一起交流和分享赛默飞世尔科技有限公司的MAGCIS复合离子源的基本工作原理和实际应用案例。主要包括：高效XPS深度剖析在有机半导体器件、共混聚合物材料等领域的应用。


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1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。

2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~

3、报名截止时间：2014年12月24日 13:30

4、报名参会：


http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/1274





5、报名及参会咨询：QQ群—231246773

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