主题：【讨论】请大家修改WDXRF建立土壤（压片制样）曲线的分析线和干扰线

原文由 玉米馒头(alhoon) 发表:
3. 元素谱线强度K>L>M，土壤和水系沉积物基本不用考虑M线的影响，La即便用Lα线分析尚且困难，M线除非是镧富集物一类的样品咯。
4. 设置多背景点的原则是高低兼顾，PHD的设置也是如此，含量处于两极的样品峰型往往存在差异，在扫描定背景点位置的时候，采用先高后低的原则。
5. Al/Si用Kα线即可，不用考虑干扰，探测器也不会饱和。
6. S现在说来没有好办法，标准序列本身就缺乏S价态的相关信息，建议结果和其他成熟方法对比。一般而言，一批相同来源的样品，其中S的价态分布应该也接近，因此可以考虑在处理数据时以经典方法的结果对XRF分析结果进行校正。
7. 就土壤/水系沉积物而言，应该是依据其地壳丰度，在《岩石矿物分析》第三版第三章19页有提到，但实际上我个人认为还应考虑各待测元素的在XRF分析中灵敏度，例如书中将F、Cl均列为次量元素，但考虑F、Cl尤其是F在WDXRF中的灵敏度我更倾向于将其定义为痕量。
8. 使用康普顿散射内标需要在方法中额外测量Rh靶Kα、Kβ的康普顿散射线，如何将其设置为内标请询问仪器应用工程师，一般地质样品中(Cr以后)痕量元素分析方才使用康普顿散射内标法，除非有明显的谱线重叠现象，Co/Ni/Cu/Zn/Pb Lβ1无须扣除，你试试就知道。
9. 那句话是针对Ti而言的，第三周期过渡元素尤其是Ti-Fe，可能存在吸收增强效应，在校正时需注意。
10. 是。
11. 样品通量sample throughout样品通量高基本等于=分析速度快，超富集我这词儿没用对地儿，换句话说含量异常，远高于背景值，打个比方你标准序列中含有100+ ppm以上As的样品绝对是凤毛麟角。异常高的Mo可能对Nb Kα线的背景产生干扰，设置背景时需注意。或者说高含量的Zn遇上低含量的Na这种罕见情况。
12. 是，注意Ti Kβ线的干扰就好。

原文由 envirend(envirend) 发表:

原文由 sweetapple986(v2644276) 发表:

常量元素可不考虑微量元素的干扰。

非常感谢。常量 微量元素 痕量元素在XRF如何划分呢？ 主量：1%-100%，次量：0.2%-1%，痕量：小于0.2%——这样划分合适吗？

如果不合适，请给出正确的。谢谢

原文由 sweetapple986(v2644276) 发表:

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常量元素可不考虑微量元素的干扰。

非常感谢。常量 微量元素 痕量元素在XRF如何划分呢？ 主量：1%-100%，次量：0.2%-1%，痕量：小于0.2%——这样划分合适吗？

如果不合适，请给出正确的。谢谢

我是这样分的，常量（主量）：1%以上，微量（次量）：0.01~1%，痕量：0.01%以下。

我没有扫描道机器，也不熟悉土壤分析，能帮楼主的不多，楼上那位是行家。

原文由 玉米馒头(alhoon) 发表:
对，先扫描高含量再低含量，特别是Na/Mg，因为高含量的峰背景往往好扣，而低含量则需要更多的点位以模拟背景的走势。在处理某些痕量元素的时候甚至可以不设置背景(在SuperQ软件中即是背景和峰处于同一位置，手动设定背景值，在背景杂乱难以选择时可以考虑，文献中也有提过)
土壤/水系沉积物中PHD的设置并没太多讲究，仪器默认参数值即可或略作修改，一般需要在处理某些矿物样品时才会遇到，比如PHD上下限过窄，精矿样品超出上下限的情况。PHD中逃逸峰的处理也是众说纷纭，加入逃逸峰可以改善检出限，但是峰背比变差，看软件是否支持两段PHD设置，比如25-31、35-75，如果具备这一功能，可以加入看看。