主题:【讨论】为什么TEM正焦时样品的衬度最弱?

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laikankan999
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为什么做TEM时,正焦的时候衬度最弱?
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longwood
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因为TEM主要是phase contrast,对于薄样品需要defocus来引入衬度。
laikankan999
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原文由 longwood(templus) 发表:
因为TEM主要是phase contrast,对于薄样品需要defocus来引入衬度。
谢谢大侠,我知道通过defocus来引入衬度,但我的问题是为什么defocus可以引进衬度,它的原理是什么?
longwood
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干涉。 正焦相当于你在样品下表面看,如果是相物体,没有什么振幅信息。你defocus一下相当于离开样品一段距离看。样品两个位置的出射波在真空中又传播了一段距离相遇了,就可以干涉了。一干涉由于位相差电子强度出现变化衬度就出来了。
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2015/9/7 13:17:23 Last edit by templus
wulabobo
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建议看高分辨的书,一看就明白了~不只是正负焦,还有样品厚度等,对拍出来效果影响很大的
kuku5837
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“原文由wulabobo发表:建议看高分辨的书,一看就明白了~不只是正负焦,还有样品厚度等,对拍出来效果影响很大的”
相关的书有没有推荐的,正在学,谢谢!
lirongzhu
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中低倍率下,振幅衬度是主要的衬度来源,聚焦状态对衬度的影响不是很大。而高倍率下,视野变得很小(单位区域的光强度也会变小),相邻区域间的振幅差异几乎可以忽略掉,如果采用正焦,意味着你还是希望看到的是振幅差异引起的衬度,当然就会造成衬度最小的现象,正确的做法就是偏离正焦状态,才能使相邻区域间的电子波产生干涉成像,形成相位衬度,如上面那位老师所说的,至于采用过焦还是欠焦,看书吧!
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“原文由wulabobo发表:建议看高分辨的书,一看就明白了~不只是正负焦,还有样品厚度等,对拍出来效果影响很大的”
有什么经典高分辨的书么?麻烦推荐一下,谢谢!
laikankan999
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原文由 lirongzhu(lirongzhu) 发表:
中低倍率下,振幅衬度是主要的衬度来源,聚焦状态对衬度的影响不是很大。而高倍率下,视野变得很小(单位区域的光强度也会变小),相邻区域间的振幅差异几乎可以忽略掉,如果采用正焦,意味着你还是希望看到的是振幅差异引起的衬度,当然就会造成衬度最小的现象,正确的做法就是偏离正焦状态,才能使相邻区域间的电子波产生干涉成像,形成相位衬度,如上面那位老师所说的,至于采用过焦还是欠焦,看书吧!
谢谢楼上的大侠回复,我感觉不管是高倍还是低倍,在正焦时衬度都是最弱的,所以不是这个方面的原因。关于CTF函数,我也研究过一段时间,它的平台(sina=-1)在欠焦时是最宽的,也就是说我们在欠胶的时候图像失真最小。但是我就是不明白为什么在正焦时候衬度最弱(个人认为这个衬度应该来源于衍射衬度,因为正焦或离焦造成了外围衍射斑点的放大或缩小)
xuaiqun
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我看到一本书上是这样解释的,欠焦时图像的细节边缘形成亮边,即菲涅尔条纹。人眼的感觉明显。所以原因恐怕在于人的眼睛。其实此时分辨率是有点降低的。
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