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透射电镜（TEM）
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主题：弱问:透射电镜能否测材料的织构并获得取向分布函数？

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sjc86021
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发表于：2006/11/12 11:49:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
如果能做的话，它的结果和扫描电镜EBSD做出来的有没有大的区别？谢谢
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uno680713
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2006/11/14 15:44:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
X光就能做，如果你有相应的分析程序。

用透射电镜做?能不能精确暂且不说，你想累死啊?
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ivy_duan
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2006/11/24 22:01:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
请教：如果是很小的区域 比如：集成电路里的金属层 没有办法使用xrd方法 有没有办法判断晶体的织构 或者其他的结构信息 （一般金属层的厚度大约400nm）请大家指点 谢谢
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