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ID:Insm_b06f7bc1
行业:其他
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ID:v3050889
原文由 小偷爸爸(v3050889) 发表:其实,你要是初步筛选可以通过扫描电镜,分辨率10nm的颗粒没问题的。假设需要进一步分析,建议去做fib,因为双喷不好处理,离子剪也容易把纳米层打坏。不过,结构分析仍然不容易,可能不同析出相多个衍射环就把你弄懵了。
原文由 Insm_b06f7bc1(Insm_b06f7bc1) 发表:谢谢,请问您知道怎么通过透射图像分析晶粒大小?
原文由 小偷爸爸(v3050889) 发表: 正常看就能看出晶粒大小,Dark filed Image就可以
原文由 Insm_b06f7bc1(Insm_b06f7bc1) 发表:嗯嗯,谢谢,还有就是铝合金一般怎么选择晶带轴看呢?
ID:m3002960
原文由 m3002960(m3002960) 发表:如果纳米层比较薄,可以采用TEM界面样制样方法,然后采用离子减薄是可行的,当然如果能切FIB也行了。至于晶带轴,如果真是纳米晶,取向可能就不一定那么规则了,什么晶带轴观察已经没有意义了,直接明场看就行了。
ID:wjianna
原文由 wjianna(wjianna) 发表:这类样品的关键是如何制样。截面样品和FIB都不错,不过也不是一般人做得好样。我们这边有几个老师做类似研究,磨样品时采用平面控制初减薄,然后用离子溅射减薄,结果也还不错。至于如何看到纳米晶,这个对透射电镜很简单,直接看明场像就行我们还用过STEM明场像,效果非常之好!