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主题：消除ICP-OES的干扰方法大家是如何作的？

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renzhihai

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发表于：2004/08/23 05:06:00 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

ICP-OES的干扰消除方法有三种：一种是基体匹配，一种是加内标，一种是数学校正。大家在分析测试过程中往往只采用了其中的一种，但是个人通过实践发现，如果能将其中的两种联合使用效果会更好。大家是否有同感？

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2004/8/23 21:54:00 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

好像作用不同吧。
你那样做很麻烦吧。

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renzhihai

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2004/8/24 5:39:00 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

不麻烦，我们作分析的目的是什么？

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three119

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2004/8/25 7:09:00 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

数学校正是不是常说的IEC，MSF？
呵呵，我用的是PE的
是不是两样做更好
还得试一下！

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新手级：新兵

2004/8/25 7:59:00 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 renzhihai 发表:
ICP-OES的干扰消除方法有三种：一种是基体匹配，一种是加内标，一种是数学校正。大家在分析测试过程中往往只采用了其中的一种，但是个人通过实践发现，如果能将其中的两种联合使用效果会更好。大家是否有同感？

1、基体匹配操作容易，但有些特殊样品，很难进行基体匹配，这是困扰所在。
2、加内标，可以有效控制仪器的漂移与一定的干扰。但现在的仪器漂移都很小，内表起到的作用不知道有多大。
3、标准加入法可以起到一定作用，但操作过于麻烦，对于每天有很多试样测定的人来说，无疑十不可行的。
4、数学校正方法很多，有的是利用分峰，有的是利用最小二乘法等。达到的效果也是不同的。
对待一些数据的处理有很多种方法，算起来有12种之多，不知道把这些算法应用到原子光谱中，会怎样。用于icp中，可能cid监测器的仪器比较容易实现。

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