主题:【讨论】过焦和欠焦的图像以及对phase 衬度的讨论

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mavericben
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我在做电镜的时候(样品是高分子薄膜,特点是主要是无定型结构,也有部分多晶结构), 发现过焦和欠焦的图像十分不一样。(如下图)。 一般我们用欠焦的作为正确图像。 但仔细观察,其实欠焦的图像里面也可以隐约看过过焦的网络状结构。不知道这个因为聚焦变化引起的phase衬度是怎么影响图像的?
我的体会是phase衬度其实表现的是薄膜表面的结构,欠焦的图像十分象SEM和AFM的图像。
一个大胆的猜测,欠焦是突出薄膜上表面的结构,过焦是突出薄膜下表面的结构?


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mavericben
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怎么现在论坛人气这么低啊。。。
版主帮帮忙?TEM_abc大虾呢?
jhmn
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你想用电镜看高分子膜里面的什么呢? 这点很重要,高分辨像的衬度很大程度决定于离焦量,即使都用欠焦成像,欠焦量的差别也会导致两张像看起来完全不同.如果你心里清楚你想要的东西,结合所使用电镜的球差系数计算衬度传递函数,然后选择合适的离焦量成像.

当然,实验时如何估计离焦量并不是件容易的事.一般以最小衬度像为参考,根据仪器聚焦值读数估计.

为什么现在人气不足? 错啦错啦! 人气旺的很呢,不信你去车站,码头看看.都在那儿呢.你也赶紧过年吧. 节后再说.

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mavericben
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哈哈。。原来都在忙过年啊。。
我想看什么?看真实得图像。欠焦得图像看上去比较象晶体和无定型得混合体。过焦得图像是什么,真实不真实就是我不明白的问题。


原文由 jhmn 发表:
你想用电镜看高分子膜里面的什么呢? 这点很重要,高分辨像的衬度很大程度决定于离焦量,即使都用欠焦成像,欠焦量的差别也会导致两张像看起来完全不同.如果你心里清楚你想要的东西,结合所使用电镜的球差系数计算衬度传递函数,然后选择合适的离焦量成像.

当然,实验时如何估计离焦量并不是件容易的事.一般以最小衬度像为参考,根据仪器聚焦值读数估计.

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