主题：【讨论】Z衬度对元素的含量的分辨率

原文由 jwdeng(jwdeng) 发表:
请教高手一下，需要注意哪些问题，才能减少衍射衬度，获得“好的HAADF image”。
是用HAADF探头收集的，是在4万倍左右收集的。
另外不知道低倍是多低，是只有能够分辨原子的HAADF像才能叫Z-contrast image吗？我不知道大家打能谱时一般是怎么做的，我们一般都是在STEM模式下收集一张HAADF像，然后做点扫，线扫，面扫的。因此对成像条件一般没有特意注意过。

原文由 penguinle(penguinle) 发表:
你要区分Z-contrast image和STEM image的区别。只有HAADF才可以称为Z-contrast image， 而不是所有STEM都是Z。。。你显示的如果是STEM image，那应该是BF，如果当时你当ADF做的，那就是你的beam打到ADF detector了。
“尤其在低倍的时候，STEM像里面肯定夹杂有衍射衬度在里面”，说这话可要小心，做ＨＡＡＤＦ有ｄｉｆ　ｃｏｎｔｒａｓｔ只能是是你没有做好，或者倍数太低扫描范围太大，导致不能称为HAADF。anyway，如果你做好的HAADFimage，是肯定不是你显示的这个的。

原文由 jwdeng(jwdeng) 发表:
请教高手一下，需要注意哪些问题，才能减少衍射衬度，获得“好的HAADF image”。
是用HAADF探头收集的，是在4万倍左右收集的。
另外不知道低倍是多低，是只有能够分辨原子的HAADF像才能叫Z-contrast image吗？我不知道大家打能谱时一般是怎么做的，我们一般都是在STEM模式下收集一张HAADF像，然后做点扫，线扫，面扫的。因此对成像条件一般没有特意注意过。

原文由 savagein(savagein) 发表:

原文由 jwdeng(jwdeng) 发表:
请教高手一下，需要注意哪些问题，才能减少衍射衬度，获得“好的HAADF image”。
是用HAADF探头收集的，是在4万倍左右收集的。
另外不知道低倍是多低，是只有能够分辨原子的HAADF像才能叫Z-contrast image吗？我不知道大家打能谱时一般是怎么做的，我们一般都是在STEM模式下收集一张HAADF像，然后做点扫，线扫，面扫的。因此对成像条件一般没有特意注意过。

1，因为样品薄厚不均，HAADF图像中除了包含Z衬度外，还有质厚衬度。三个点能谱结果相同，明暗度却不同，我的推断是：三个打点的位置均是同种材料，而亮点处的厚度偏高。欢迎大家提出不同意见。

2，为了验证1中的说法，可以利用明场的透射斑成像，也可用HAADF做明场像（质厚衬度）。方法为，用物镜光阑挡住diffracted beam，然后用bright field tilt，将中心亮斑偏转到HAADF的环形探头上。

3，为了降低低倍STEM图像中的衍射衬度，是否可把晶体倾转到偏离晶带轴的方向？这样就可避免STEM图像中的衍射衬度，从而得到更纯粹的Z衬度？

原文由 penguinle(penguinle) 发表:
1第一句是对的，但是结论不对。如果你看过低倍下的z-contrast img,你就会知道因为厚度而引起的contrast绝对不是楼主图片上的。他的图片很明显是BF ADF，不会是z-contrast。
3.HAADF是STEM的一种，并不是所有的STEM都是HAADF。atomic resol的STEM需要在zone axis上，否则的话只看Z contrast和zone axis没有关系，在HAADF你怎么tilt contrast都是一样的（thickness会变化，但是contrast不会变）

又看了看楼主的图，确实应该是明场。

原文由 savagein(savagein) 发表:
又看了看楼主的图，确实应该是明场。