仪器吸光度噪声可通过在一定的测试条件下,在确定的波长范围内对空白相应变化的分析获得,用其最大噪声峰值或该波长范围内所有噪声峰值的均方根值(RMS)表征。当在确定的波长范围内对同一样品进行多次测量时,仪器吸光度噪声表现为测得的样品吸光度的标准差。在参比状态下连续采集2张光谱,其中1张作为参比光谱,按照公式(2-3)计算吸光度。在工作波长范围内选取一定宽度的光谱区间,按照公式(2-4)计算吸光度噪声:
(2-3) 式中:[img=,14,]file:///C:/Users/ADMINI~1/AppData/Local/Temp/ksohtml6584/wps16.png[/img]
为吸光度;
为参比光谱;[img=,14,]file:///C:/Users/ADMINI~1/AppData/Local/Temp/ksohtml6584/wps18.png[/img]
为单次测试光谱。
(2-4) 式中:[img=,14,]file:///C:/Users/ADMINI~1/AppData/Local/Temp/ksohtml6584/wps20.png[/img]
为该区间(共n个波长点)的吸光度噪声;
为该区间某个波长数据点j的吸光度值;[img=,14,]file:///C:/Users/ADMINI~1/AppData/Local/Temp/ksohtml6584/wps22.png[/img]
为该区间(共n个波长点)吸光度的平均值;[img=,14,]file:///C:/Users/ADMINI~1/AppData/Local/Temp/ksohtml6584/wps23.png[/img]
为波长点数。仪器的噪声主要取决于仪器光源的稳定性、电子系统的噪声、检测器产生的噪声以及环境影响所产生的噪声,如电子系统设计不良、仪器接地不良、外界电磁干扰等因素都会使仪器的噪声增大。近红外光谱分析是一门弱信号分析技术,即从一个很强的背景信号中提取出相对较弱的有用信息,得到分析结果,因此吸光度噪声是近红外光谱仪器非常重要的指标之一,直接影响分析结果的准确度和精确度。仪器的信噪比与仪器的吸光度噪声水平具有对应关系。一般而言,仪器的信噪比越高,则仪器的吸光度噪声水平越低。因信噪比的计算方式有多种,在此不再进行详细说明。