主题:【讨论】SAXS的数据可否作为SAXD的参考

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dying_man
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请问,文献中报道的小角X光散射的数据,比如2theta角,能不能作为小角X光衍射的参考呢?如果能,是简单的一致关系,还是另须换算?麻烦哪位有经验的朋友来讲解一下。
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rubyzsq
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小角X射线散射是测定粒度分布的吧,而小角X射线衍射指的是低角度衍射吧?
这两者有参考的意义嘛?不太明白。不知道楼主想要得到哪些信息.
wonderer
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理论上不同
      广角衍射:
      小角散射:x射线经过一个电子密度分布不均匀的样品散射后分布的情况
X射线衍射(X-ray Diffraction,简写为AXD)主要研究晶体结构,2-theta一般大于5度。
小角X射线散射(Small Angle X-ray Scattering, 简写为SAXS) 主要研究形态结构,聚集体的尺寸,形状,分布等,2-theta的范围一般小于5度。
具体的可以问专业人士
我这里有一份资料,有兴趣的可以看看
willcon
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原文由 wonderer 发表:

X射线衍射(X-ray Diffraction,简写为AXD)主要研究晶体结构,2-theta一般大于5度。


X-ray Diffraction,简写应该是XRD,大家都知道的。
dying_man
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照这么说,XRD就只能测晶面间距、晶胞参数还有晶粒大小,我就是感到纳闷,我在XRD时小角度收集到的信号不可能是散射光的干涉峰么?
wonderer
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笔误,呵呵,介孔材料,层状结构的样品(例如蒙托土之类),还有一些液晶样品的x衍射小角度也会出现很强的衍射峰,1度到10度的范围,有的时候有1个衍射峰,有的时候有三个,甚至更多,衍射峰位置和晶体结构有关系
willcon
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要测粒径的话还是得用专门的小角散射好!其实用专门的粒度仪不是很好吗?其实还可以用扫描电境吗?
dying_man
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原文由 wonderer 发表:
笔误,呵呵,介孔材料,层状结构的样品(例如蒙托土之类),还有一些液晶样品的x衍射小角度也会出现很强的衍射峰,1度到10度的范围,有的时候有1个衍射峰,有的时候有三个,甚至更多,衍射峰位置和晶体结构有关系


我的样品有可能是有一定的有序结构吧,类似于液晶。如果真的是由于液晶造成的,那么衍射峰是不是也简单可以按照Bragg方程来解释:样品中存在某种晶面间距一定的结构?还是有其他的解释?
wonderer
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不同的仪器测量的颗粒尺寸范围不一样,和x光小角散射比,激光粒度仪的样品尺寸更大一些,有的到微米级,对于非球状的颗粒误差很大,采用不同的计算方法,结果也会有很大的不同,扫描电镜的观察最直观,但是要求样品的衬度要好一些,不是所有的样品都可以观察的,目前国内Sem能做到10nm就很不错了,Tem分辨率更高,不过对样品的要求也更加严格。
willcon
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现在的激光粒度仪做到100nm是没有问题的,采用液体分散以后,测试效果还是不错的。至于扫描电境,如果采用环境扫描方式的话,对样品基本没有要求,只要没有磁性的样品,基本上都是可以测的,而且看到的结果应该来说肯定是很准的,只是在统计问题上使用的软件可能会造成误差。如果用小角散射的话,不太清楚,如果是把孔或者颗粒当作晶面间距处理,那么测试范围应该是多少呢,怎么感觉太小。
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