实战宝典 原创大赛 仪器问答 仪友会 总帖：8084179今日发帖：1077 我的社区 签到
快速导航 采购仪器 提醒
光谱梦
版主:
入住本版
专家:
居民列表

主题：【原创】飞行时间二次离子质谱原理

浏览0 回复1 电梯直达
Insp_3dd89f61
头像
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
发表于：2024/09/18 16:51:15 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
飞行时间二次离子质谱原理
为您推荐
近期热榜
热门活动
您可能想找: 气相色谱仪(GC) 询底价
选参数 看心得 找厂商 查方案
专属顾问快速对接
立即提交
可能感兴趣
p3304119
p3304119
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
2024/9/18 18:55:45 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
?飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）?是一种基于质谱的表面分析技术，它结合了二次离子质谱（SIMS）和飞行时间质谱（TOF）的技术特点，用于分析固体样品表面的元素组成和分布。该技术的原理主要涉及以下几个步骤：

?一次离子束轰击?：使用聚焦的一次离子束轰击样品表面，这些一次离子可能穿透固体样品表面的一些原子层，深入到一定深度。在穿透过程中，一次离子与样品表面原子发生弹性和非弹性碰撞，导致晶格原子被溅射出来，形成二次离子。

?二次离子产生?：溅射出的二次离子包括中性原子、分子以及带正负电荷的原子、分子和分子碎片。这些二次离子包含了样品表面的化学信息。

?质谱分离?：电离的二次粒子（溅射的原子、分子和原子团等）按质荷比实现质谱分离。这一步通过质量分析器实现，能够提供关于样品表面和本体元素组成和分布的信息。

?飞行时间分析?：利用不同离子的质荷比不同造成的飞行速度不同，通过测量二次离子的飞行时间来区分不同种类的离子。这种飞行时间分析技术提高了检测样品元素成分和分布的准确性。

?数据解读?：收集经过质谱分离的二次离子，可以得知样品表面和本体的元素组成和分布。通过分析二次离子的数量和飞行时间，可以获得各个元素的浓度值以及元素在样品中的纵深分布信息。
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
举报
手机版： 飞行时间二次离子质谱原理
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
头像
高级回复 发表评论
品牌合作伙伴
岛津
日立科学仪器
珀金埃尔默仪器（上海）有限公司（PerkinElmer）
日本电子株式会社
丹纳赫
安捷伦
赛默飞世尔科技
普析通用
欧波同
天美
天瑞仪器
德国耶拿
海能技术
马尔文帕纳科
磐诺科技
上海仪电科仪
梅特勒托利多
聚光科技
莱伯泰科
盛瀚
多宁生物
丹东百特
科哲
卓立汉光
屹尧科技
华谱科仪
宝德仪器
优莱博
HORIBA
布鲁克核磁