原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）是一种可以实现表面纳米级观测的扫描探针显微镜。它通过一个极其细小的探针与样品表面进行物理互动，探针固定在一个微小的悬臂上，当探针扫描样品表面时，悬臂会因探针与表面之间的原子间力（如范德瓦尔斯力、静电力或毛细力）而发生偏转或振动。这些变化会被高灵敏度传感器记录下来，并转换成计算机可处理的信息，进而构建出样品表面的高分辨率三维图像。AFM不仅适用于导电材料，也能用于非导电物质的研究，在纳米技术、材料科学和生物医学等多个领域中发挥着重要作用。
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