主题:【求助】含铜的样品的XRD粉末衍射分析

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ibiwkis
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可以应用Cu靶辐射源 Cu Kα来分析氧化铜或者其他含铜样品的晶相结构吗?

与用其他辐射源如Fe Kα, 分析氧化铜或者其他含铜样品, 所得到的衍射图的区别及原因是什么?

谢谢!
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ibiwkis
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不好意思, 我希望我的这个"求助"放在"衍射仪"区, 但是, 因为权限限制无法转移. 请能够帮我解答的朋友不吝赐教!
非常感谢!
j950901111
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yjfeng2000
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原文由 ibiwkis 发表:
可以应用Cu靶辐射源 Cu Kα来分析氧化铜或者其他含铜样品的晶相结构吗?

与用其他辐射源如Fe Kα, 分析氧化铜或者其他含铜样品, 所得到的衍射图的区别及原因是什么?

谢谢!

可以用铜靶来测量氧化铜之类的含铜样品。由于波长不一样,衍射峰的出现位置肯定不一样的但是对应计算的晶面间距是相同即每一个衍射峰对应的d值是相同的。
ibiwkis
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多谢 少尉:yjfeng2000

实际操作中, 我发现, 用铜靶分析的含铜样品所得到的谱图的背景非常高, 由此会引出一个问题, 就是对于混合相, 如果另外一相非常少, 这样一来, 另外一相很可能被这样高的背景峰所掩盖, 分辨不出.
如果改用其他靶源,是不是背景峰会很小, 同时不影响对共存的其他相的分析?但是, 常规用都是铜靶, 因为测含铜样品而换靶太麻烦.
有没有其他途径解决背景过高的问题?

谢谢, 欢迎高手指点!
XRD
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我记得很早以前买的一台衍射仪上配上大约5-6个不同靶的光管,用于测量不同的样品。
但是,后来购买衍射仪时,就只配一个铜靶了。
现在常规衍射仪都用铜靶,加上石墨单色器,解决了吸收限的问题,但是,荧光问题还是存在的。正如上面提到,用铜靶光源测量含铜的样品时,背景会非常高,而且还不平,在小角度时荧光较弱,背景较低,随着衍射角增大,荧光强度增大,背景线越来越高,到后面基本上平坦了。但是,我认为,背景的高低是一回事,背景线的波动是另一回事,我们看到图谱中的线是毛刺很多的一条线,实际上是光强度的波动。用铜靶光源测量含铜样品是没有问题的。而且由于光管的波长与样品波长相同,光强度很高,即使很小量的含铜杂质,如铜的氧化物等都能积极地反映出来。
ibiwkis
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