主题:【原创】我有过一些XRF的工作经验,希望为从事XRF的同行们尽微薄之力,EDXRF更擅长一些

浏览0 回复46 电梯直达
yaya
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可以给我一个联系方式吗?我想请问一些关于WDXRF元素干扰的问题。如果可以我的QQ308488906.谢谢!
huibingzhang
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pglqwqz
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我在用固定道荧光仪融片分析氧化铝中硅(0.005%)、铁(0.005%)、钠(0.35%)的样品时遇到一些问题:1、用混合融剂进1:2比1:4的样品测出强度更低,不知为何。2、融片强度很低。3、PHD峰形很差,好象是背景很强,不知如何消除。以上问题还请张老师给解答一下,多谢!
huibingzhang
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你好
  氧化铝我没做过,只能从理论上回复你的问题,不知能否对你有所帮助?
  因为氧化铝本身是属于轻基体样品,散射背景就比较高,在熔样时,你加入的溶剂量越大,所得到散射背景就越高(因为散射背景随基体的平均原子量的减小而增大),元素的特征峰是叠加在背景上的,而且在你的样品中Si、Fe只有50ppm,Na只有3500ppm,对荧光来说也应该算是低的,况且Na、Si离基体元素都是比较近的,影响也比较大(从这个角度讲,对铁影响是比较小的),所以从表面看,稀释比越大(熔剂越多),总强度显的越大。我认为净强度还是应该下降的。
  我建议:熔样时,只要样品的流动性足够好,就不要追求较大的稀释比,而且可能的话给Al的通道加衰减器,这样可能会好一些;如果还有问题,试一下标准加入法,熔样时定量加入Na、Si,这样可能计算稍微麻烦一点,称样时要求更准确,但灵敏度会提高一些。
  还有,你可以试试压片法,因为氧化铝是“熟料”,矿物效应很小,但可以提高微量元素的强度。
  但愿对你能有所帮助。
yangg168
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我做有机硅中的金属元素分析,用岛津EDX-720,XRF-1800,MXF-2400哪个好,谢谢。
韦尔奇
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rohsking
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原文由 huibingzhang 发表:
我原来是斯派克的工程师,对其他公司仪器的细节了解不是很多,不敢妄加评论,以下只是自己的看法:镀层分析应该不是岛津的强项,你可以了解一下精工的,可能会好一些,因为他们原来厚度仪做的不错,但我确实没有听说,那家在这方面做得很好。


同意!在X射线分析领域,能在元素分析和膜厚测量都做的比较好的好像只有精工一家!
245493431
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张老师:您好,我想请教一下XRF测水样的问题。
  我的仪器是PAN的E5能谱,我想测试水样,但是水样的酸碱度较大(从pH13~pH1均有,碱性主要是Ca(OH)2,酸性主要是HNO3),我在仪网上了解了一下,有些人说水样里面的物质有时候在照射下会反应使薄膜破裂,损害探测器,请问有什么方法可以避免这中情况,是否有其它方法?或者说XRF测定对水样有什么要求呢?
  谢谢您!
panalytical
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lunaxu
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原文由 huibingzhang 发表:
我有过一些XRF的工作经验,做过WDXRF的应用和维护工作和EDXRF的培训、安装、维修和应用工作,希望为从事XRF的同行们尽微薄之力,EDXRF更擅长一些


張老師,請教一下
前兩天我們用EDX-720測試鐵氟龍色母時鉛超標(有2000多個ppm),我查看了譜圖,發現鉛元素右邊的鉍元素的峰很高,我認為鉛的測試結果應該是受到鉍元素的光譜干擾才對。
還有就是所有資料裡面都說EDX測試容易受到其它光譜干擾影響,這裡的其它光譜是指樣品中可能含有此類干擾光譜的元素還是?
如果是這樣,那鐵氟龍的色母裡面怎麼會有鉍元素的干擾呢?
以上希望您可以幫忙指點一下,謝謝
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