主题：【求助】关于杂散光

原文由 (liyuan) 发表:
一般情况下仪器仪器标识的杂散光是仪器设计本身造成的，不是样品造成的，注意造成杂散光的原因是分光器件产生的，主要是光栅；杂散光只对高吸光度的样品有较大的影响，对于一般情况下的测量不会造成大的干扰。

原文由 nonon(xian1107) 发表:

原文由 (liyuan) 发表:
一般情况下仪器仪器标识的杂散光是仪器设计本身造成的，不是样品造成的，注意造成杂散光的原因是分光器件产生的，主要是光栅；杂散光只对高吸光度的样品有较大的影响，对于一般情况下的测量不会造成大的干扰。

  我不明白了，越高浓度，为什么影响越大？就像后面九点说的，你浓度0.9%，杂散光0.5%，那不是可以忽略不计了么？

原文由 ghcily(ghcily) 发表:
我做紫外的时候，是这样的，用黑挡块挡住样品光，扫描出来应该是一条为“0”的直线，杂散光就是那些“小刺”

原文由 (yale_fan) 发表:

原文由 zhouyuhu 发表:
按照李昌厚教授的讲座，杂散光就是在不应该有光的地方有光出现、
个人认为在做浓溶液的时候对测定的影响比较大，
反映在谱图上，我觉得会和样品所产生的吸光度迭加

再问一下，那什么物质在高浓度下会产生杂散光，我在做一些紫外的时候有些浓度高的就没有，有些高浓度的就有。

原文由 (zam0825) 发表:
杂散光就是所需波长之外的光,它的波长和所需的波长不一样。若杂散光也产生吸收，则吸光度叠加。由于杂散光所占比例很小，所以一般只在样品浓度高时影响较大。

原文由 liyuan(liyuan) 发表:
一般情况下仪器仪器标识的杂散光是仪器设计本身造成的，不是样品造成的，注意造成杂散光的原因是分光器件产生的，主要是光栅；杂散光只对高吸光度的样品有较大的影响，对于一般情况下的测量不会造成大的干扰。

原文由 童话(20066002zn) 发表:
杂散光对分析测试的误差的影响有两种形式：1 杂散光的波与测试波长相同，这种主要是由于光学元件，机械零件的反射和漫射引起的；2 指测试波长以外的，偏离正常光路而到达光电转换器的光线，通常是由光学系统缺陷引起的。
并且杂散光的影响是随着吸光度的增大而增大的。光栅是杂散光的主要来源。

原文由 tarika(tarika) 发表:
我记得看到的资料说，朗伯-比尔定律适用于理想的单色光情况，但仪器光源产生的光不可能是绝对的单色光，除设定的波长外，其他波长的光就称为杂散光。样品也可能吸收杂散光，导致吸光值偏高。所以当样品浓度增大时，杂散光导致的误差就更大。

原文由 jelly98(jelly98) 发表:
仪器能测到的是样品未吸收的光，仪器根据所测得的未被吸收的部分，推算出样品吸收了多少。
杂散光从名字上我们就可知道是其他的未被样品所吸收的光。
样品浓度越高，未被样品吸收的光就越少。此时在被吸收的光中杂散光所占的比重就越大。所以仪器计算出样品吸收的结果误差越大。

原文由 cloudcn(cloudcn) 发表:
杂光是一直存在的，只是对低吸收影响不大
一般的光度计杂光都能达到万分之5，也就是说这种仪器如果测到3个abs时由于出现了不该出现的杂光，准确度就打折了