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原文由 lh2000d 发表:
不知道你所测试的样品以及测试条件，如果像你说的越来越高的话，若使用的是显微系统可以用光镜看看样品有无被烧坏，如果是这样的话可以考虑换一个点降低激发功率再采集；如果还是老样子的话就要考虑样品本身的荧光背景干扰，换个激发波长(NIR UV)再试；
Origin可以做基线校正，Input data——Plot——Line——Tools——Baseline
调节Automatic后框中数字——Create Baseline，如果生成的Baseline不满意可以选择Modify用鼠标来调节点的位置，然后Subtract就可以将基线拉平了。不过最好Smooth以后再进行基线校正。 试试看吧
原文由 lh2000d(lh2000d) 发表:
不知道你所测试的样品以及测试条件，如果像你说的越来越高的话，若使用的是显微系统可以用光镜看看样品有无被烧坏，如果是这样的话可以考虑换一个点降低激发功率再采集；如果还是老样子的话就要考虑样品本身的荧光背景干扰，换个激发波长(NIR UV)再试；
Origin可以做基线校正，Input data——Plot——Line——Tools——Baseline
调节Automatic后框中数字——Create Baseline，如果生成的Baseline不满意可以选择Modify用鼠标来调节点的位置，然后Subtract就可以将基线拉平了。不过最好Smooth以后再进行基线校正。 试试看吧
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