主题:红外分析中遇到的问题

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lixuan_hit
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在我的研究中遇到这样的问题:固体二氧化硅,表面主要吸附位点为硅烷醇基团Si-OH;腐殖酸,表面主要作用位点为羧基-COOH。二者在水溶液中,在中性pH下都解离出氢离子而带负电。如果假设二者通过配位作用生成Si-O-OC-的结构(OC为碳氧双键),那么这个过程在红外分析和XPS分析中会在谱图上如何表现呢(假设使用没有和腐殖酸反应的二氧化硅固体作为参照)?
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celan
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原文由 lixuan_hit 发表:
在我的研究中遇到这样的问题:固体二氧化硅,表面主要吸附位点为硅烷醇基团Si-OH;腐殖酸,表面主要作用位点为羧基-COOH。二者在水溶液中,在中性pH下都解离出氢离子而带负电。如果假设二者通过配位作用生成Si-O-OC-的结构(OC为碳氧双键),那么这个过程在红外分析和XPS分析中会在谱图上如何表现呢(假设使用没有和腐殖酸反应的二氧化硅固体作为参照)?


固体二氧化硅与腐殖酸不好反应吧?!二氧化硅的图谱比较简单,而腐殖酸的IR图谱中的峰是很钝的,显示混合物图谱的特征.建议分别测定IR,再细心比较,找出差别.
wishy
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