主题:请教如何用AFM或TEM来准确测定2到10个纳米薄膜的厚度?

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钱包丢了
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如题,请问有这方面的高手吗?测得的结果误差有多大,影响误差的因素有哪些?
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清风侠
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AFM用来测量膜厚,目前还比较困难,如果是台阶样的样品还可以!
hansyangts
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原文由 fob204 发表:
如题,请问有这方面的高手吗?测得的结果误差有多大,影响误差的因素有哪些?


制成台阶层状样品后测试,一般可得到理想结果。但要注意台阶的高度,要适应扫描管Z方向的测量范围。另外,一定要精确的对扫描管Z方向进行标定,这样才能尽可能的减小误差。
清风侠
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原文由 hansyangts 发表:
原文由 fob204 发表:
如题,请问有这方面的高手吗?测得的结果误差有多大,影响误差的因素有哪些?


制成台阶层状样品后测试,一般可得到理想结果。但要注意台阶的高度,要适应扫描管Z方向的测量范围。另外,一定要精确的对扫描管Z方向进行标定,这样才能尽可能的减小误差。

如果为了测薄膜样品的高度,而可以制成台阶层状样品,就又可能影响了薄膜本身的一些性质,本人保留意见!
可人
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我做的是溅射薄膜,特意做了有台阶的样品,而且也用AFM对样品进行了扫描,不知道具体要怎么分析样品的厚度,请指教。
hitttr
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原文由 kerener_99 发表:
我做的是溅射薄膜,特意做了有台阶的样品,而且也用AFM对样品进行了扫描,不知道具体要怎么分析样品的厚度,请指教。


如果你已经根据测试的目的做成了台阶样品,那么如果你能使用AFM将这些台阶扫描下来基本上就ok了,如果你能确定一个台阶就是一层薄膜的厚度,那么在分析软件中,垂直于台阶作一个界面分析就可以得到台阶的高度,即这层薄膜的厚度了。个人浅见,如果错误请指正
pzg16
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zt_777
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原文由 hansyangts 发表:
原文由 fob204 发表:
如题,请问有这方面的高手吗?测得的结果误差有多大,影响误差的因素有哪些?


制成台阶层状样品后测试,一般可得到理想结果。但要注意台阶的高度,要适应扫描管Z方向的测量范围。另外,一定要精确的对扫描管Z方向进行标定,这样才能尽可能的减小误差。

一定要精确的对扫描管Z方向进行标定,怎样定标呀,请指教
可人
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原文由 hitttr 发表:
原文由 kerener_99 发表:
我做的是溅射薄膜,特意做了有台阶的样品,而且也用AFM对样品进行了扫描,不知道具体要怎么分析样品的厚度,请指教。


如果你已经根据测试的目的做成了台阶样品,那么如果你能使用AFM将这些台阶扫描下来基本上就ok了,如果你能确定一个台阶就是一层薄膜的厚度,那么在分析软件中,垂直于台阶作一个界面分析就可以得到台阶的高度,即这层薄膜的厚度了。个人浅见,如果错误请指正

关键问题是我对AFM的分析软件并不熟悉,对他的很多的功能不是很了解,可以说不知道它分析出来时做什么用的。不知道你会不会用,有说明书之类的介绍吗?
wxmtsinghua
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lami
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一根扫描线,呈现阶梯状,两个阶梯间的距离就是薄膜厚度
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