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ID:ljiang8
行业:其他
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ID:sshlxf
原文由 ljiang8 发表:我在铜基体样品的两个相邻位置上分别打了选区EDX, 发现铜的两个能量峰计数之比相差很大。一个谱上Cu的高能峰( ~8KV):低能峰(~0.9KV)之 高度比 约为2/3;而另一个谱则为1/4。 这是为什么?和表面杂质厚度或形貌有关,还是和数据收集有关?请指教!谢谢
ID:zemb