原文由 fairychen 发表:![]()
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Hitachi S-4800, S-4700 & S-5200 都有 Low Detector and Upper Detector.事实上,这两个 Detector 都是属于 SE detector。
Upper Detector 除了收集由样品本身产生的二次电子外,同时还会收集由 BSE 激发上电极板所产生的 SE. 所以 Upper Detector 所看到的图象因 SE 信号的增加解吸度会增加。
Low Detector 可以收集一些小角度的 BSE 以及SE.但是, Low D 和High D 所收集的 SE,因为 Primary Beam, 样品以及 Detector 三者的角度关系变化了,故 Low D 所收集的 SE 与 Upper D 所收集的 SE 它们所携带的是样品表面信息是来自不同角度的。另外由于 Low D 所探测的 BSE 相对与 Upper D 多一些,又由于 BSE 来源携带的是 样品的深度信息,所以 Low D 看到的图象解析度会比较差。
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Hitachi S-4800, S-4700 & S-5200 都有 Low Detector and Upper Detector.事实上,这两个 Detector 都是属于 SE detector。
Upper Detector 除了收集由样品本身产生的二次电子外,同时还会收集由 BSE 激发上电极板所产生的 SE. 所以 Upper Detector 所看到的图象因 SE 信号的增加解吸度会增加。
Low Detector 可以收集一些小角度的 BSE 以及SE.但是, Low D 和High D 所收集的 SE,因为 Primary Beam, 样品以及 Detector 三者的角度关系变化了,故 Low D 所收集的 SE 与 Upper D 所收集的 SE 它们所携带的是样品表面信息是来自不同角度的。另外由于 Low D 所探测的 BSE 相对与 Upper D 多一些,又由于 BSE 来源携带的是 样品的深度信息,所以 Low D 看到的图象解析度会比较差。