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主题：【求助】问一下，用TEM能定量测量颗粒表层的元素么？

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daxu
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发表于：2008/08/05 10:35:10 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
样品经酸腐蚀后会产生纳米级的薄层，想用TEM打一下表层的元素比例，不知道行不行？元素是K、Si、Al、O
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ustb
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2008/8/5 14:53:11 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 daxu 发表:
样品经酸腐蚀后会产生纳米级的薄层，想用TEM打一下表层的元素比例，不知道行不行？元素是K、Si、Al、O

做XPS比较合适。
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蓝莓口香糖
drizzlemiao
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2008/8/5 18:04:18 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
分析不是大问题。关键是怎么制样。先制杨再腐蚀，还是先腐蚀在制样？怎么把那个薄层保留下来？好难呀。
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daxu
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2008/8/5 21:29:55 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 ustb 发表:
原文由 daxu 发表:
样品经酸腐蚀后会产生纳米级的薄层，想用TEM打一下表层的元素比例，不知道行不行？元素是K、Si、Al、O

做XPS比较合适。

如果做xps的话，测出的元素含量能代表薄层的么？
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wunderfool
wunderfool
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2008/8/6 11:34:53 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
如果做xps的话，测出的元素含量能代表薄层的么？

是啊，XPS测得的是表层几个纳米内的信息。俄歇电子能谱（AES）也可以的。
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guanpeng
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2008/10/8 10:54:38 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊

asassasa
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wyxyy
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2008/10/10 15:20:39 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
因为是做表面的元素分析，不同的仪器的表面分析深度是不一样的。XPS分析的样品的表面深度比俄歇电子能谱的要深。你或许可以先用俄歇电子能谱分析一下，再用离子减薄打掉点，再分析试试。不过俄歇电子能谱更适用于轻元素。
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