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透射电镜（TEM）
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主题：【求助】金属TEM电镜，如何消除或降低干涉条纹？

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ysuren
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发表于：2011/10/12 09:17:05 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
现在做金属的透射，晶粒内部有写位错结构和析出的小粒子。但是干涉条纹很重，导致找出来的电镜照片效果很差。尤其是1um以下的粒子，内部基本看不出具体的情况来。试着转了一下带轴(本人不是很专业，就是转到了一些菊池线密集的交点),得到的明场像中，粒子基本就全黑了。周围很白。仍然看不清楚。不知道有没有更好地办法，或者我的带轴转得不对，应该转到特定的方向上。
PS：我做的是六方结构的Zr金属。
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2011/10/12 11:13:36 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
不知道你所的指的干涉条纹是什么，是厚度效应引起还是其他

1um的已经粒子很大了，
粒子由于有一定厚度，衬度自然要比基体黑，再加上你的在正轴状态下，在孔洞边缘的粒子越黑，说明离正带轴越近

你可以选择在粒子和基体的界面出做选区衍射，分别做明场（物镜光阑用3号或4号）和中心暗场（暗场应选择粒子的衍射斑点，这样粒子就是亮的，基体是黑的）
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ysuren
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2011/10/12 15:05:51 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
干涉条纹应该是等倾干涉条纹。应该是样品弯曲造成的把。
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2011/10/13 9:24:28 Last edit by ysuren
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