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ID:daxu
行业:其他
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ID:feixiong5134
原文由 daxu 发表:元素是K、Si、Al、O,含量比较高,在TEM版块问过,想能EDS定量分析,但制样可能比较困难。我的原意是用TEM看到颗粒外表那层薄薄的层后,测定那层薄层的元素量,然后再和基体的做比较。如果用XPS的话,测出的元素量代表颗粒多深厚度的?请各位指教!谢谢